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存储器校准和容限检查制造技术

技术编号:44968946 阅读:19 留言:0更新日期:2025-04-12 01:42
公开了具有容限检查的存储器校准。一种存储器子系统包括存储器和耦合到该存储器的存储器控制器。该存储器控制器包括校准电路,该校准电路被配置为:在初始化过程期间针对多个性能状态中的一些性能状态执行水平存储器校准;以及确定指示该多个性能状态中的成对性能状态的校准结果之间的一组差异的信息并将该信息存储在存储电路中。该存储器控制器被进一步配置为:在该初始化过程之后并且响应于从该多个性能状态中的第一性能状态到该多个性能状态中的第二性能状态的改变,基于该组差异来设置用于该第二性能状态的初始存储器参数。此后,操作在该第二性能状态下开始而不执行初始水平校准。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及存储器子系统,并且更具体地涉及在存储器子系统中执行的校准。相关技术描述眼图(eye pattern)或眼图(eye diagram)是例示数字信号能以其正确的值被采样的时间和振幅的图示。在包括数据传输的各种类型的系统中,期望根据时间和采样电压在眼的中心附近对信号(例如,由时钟信号同步的数据信号)进行采样。根据定时,这可对信号提供具有足够量的建立时间和保持时间两者,同时还使该信号不易受噪声影响。根据电压,这可使得能够基于用于区分一个逻辑值与另一逻辑值的参考电压来更准确地确定逻辑值(例如,逻辑1或逻辑0)。在存储器子系统中,可执行校准以确定在眼图内对信号进行采样的点。校准被执行以确定使得能够对信号进行准确采样的眼图,并且因此包括基于定时(有时称为水平校准)和采样参考电压(有时称为垂直校准)两者的校准。执行这些校准通常包括调整管理存储器控制器与存储器之间的数据传输的多个不同参数。这些参数包括在水平校准期间应用于数据选通信号的延迟。垂直校准可包括在不同参考电压下执行的多次水平校准。此类校准可在系统启动期间执行,并且也可在之后定期执行。校准还可响应于性能状态的改变而执行。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种装置,所述装置包括:

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个性能状态中的一个性能状态中的给定性能状态包括相对于所述多个性能状态中的其他性能状态的操作电压和时钟频率的唯一组合。

3.根据权利要求1所述的装置,其中所述校准电路被进一步配置为在所述第二性能状态下操作之后执行容限检查校准,其中为了执行所述容限检查校准,所述校准电路被进一步配置为:

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述校准电路被配置为响应于确定所述第一点和所述第二点处的所述校准结果为通过结果而跳过在所述第二性能状态下执行全水平校准。

5.根据权利要求3所述的装置,其中所...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种装置,所述装置包括:

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个性能状态中的一个性能状态中的给定性能状态包括相对于所述多个性能状态中的其他性能状态的操作电压和时钟频率的唯一组合。

3.根据权利要求1所述的装置,其中所述校准电路被进一步配置为在所述第二性能状态下操作之后执行容限检查校准,其中为了执行所述容限检查校准,所述校准电路被进一步配置为:

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述校准电路被配置为响应于确定所述第一点和所述第二点处的所述校准结果为通过结果而跳过在所述第二性能状态下执行全水平校准。

5.根据权利要求3所述的装置,其中所述校准电路被进一步配置为:

6.根据权利要求3所述的装置,其中所述校准电路被进一步配置为将在进入所述第二性能状态之后所述容限检查校准被执行的次数限制为阈值,并且响应于确定所述容限检查校准已被执行的所述次数超过所述阈值而执行全水平校准而不是所述容限检查校准。

7.根据权利要求1所述的装置,其中在执行水平校准时,所述校准电路被配置为以特定参考电压并且以应用于数据选通信号的不同延迟值来执行向存储器的数据写入以及从所述存储器的数据读取。

8.根据权利要求1所述的装置,其中所述存储器包括多列存储器系统,所述多列存储器系统具有第一组存储器电路和第二组存储器电路,所述第一组存储器电路和所述第二组存储器电路共享所述存储器控制器与所述存储器之间的一组共用信号路径。

9.根据权利要求1所述的装置,其中所述校准电路被进一步配置为在所述初始化过程之后在所述多个性能状态中的所述第一性能状态下的操作期间并且在改变到所述多个性能状态中的所述第二性能状态之前执行一次或多次周期性水平校准,并且被进一步配置为基于在转变到所述第二性能状态之前在所述多个性能状态中的所述第一性能状态下执...

【专利技术属性】
技术研发人员:R·E·杰特郑靖奎R·J·沙V·乔克林加姆N·K·科拉达
申请(专利权)人:苹果公司
类型:发明
国别省市:

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