显示模组的伽马校正方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:44968424 阅读:21 留言:0更新日期:2025-04-12 01:41
本申请提供一种显示模组的伽马校正方法、装置、设备及介质,该方法包括:计算样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值和实际亮度值的比值;计算待校正显示模组各单色的实际亮度值与伽马寄存器值的对应关系;并根据待校正显示模组在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值以及比值,计算待校正显示模组在各绑点灰阶下各单色的预期亮度值;将待校正显示模组在当前调试灰阶下各单色的预期亮度值与对应关系进行匹配,得到对应的伽马寄存器值作为待校正显示模组当前调试灰阶的初始伽马寄存器值。本发明专利技术消除了压降以及低灰阶串扰对伽马调试的影响,由此得到了精准的初始伽马寄存器值,可以为后续调试节省大量的时间,缩短伽马调试耗时,提升设备产能。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示,尤其涉及一种显示模组的伽马校正方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、即有源矩阵有机发光二极管)作为下一代半导体显示技术,因其具有轻薄、高对比度、高刷新率、宽视角、广色域等优点,而被广泛应用于智能手机等电子设备中。

2、为了保证amoled显示模组出厂时的显示效果,通常需要对每一片显示模组进行显示效果校正,即伽马(gamma)校正,以使该显示模组达到最佳的显示效果。

3、但是,当前的伽马校正方法耗时过长,影响设备产能。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提出一种缩短伽马校正耗时,提升设备产能的显示模组的伽马校正方法、装置、设备及介质。

2、基于上述目的,本申请提供了一种显示模组的伽马校正方法,该显示模组的伽马校正方法包括:

3、从当前批次中抽取显示模组作为样品,计算所述样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值和实际亮度值的比值;

4、从当前批次中抽取显示模组作为待校正显示模组,计算所述待校正显示模组各单色的实际亮度值与伽马寄存器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示模组的伽马校正方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述样品的个数为多个;

3.如权利要求1所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述计算所述样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值和实际亮度值的比值,包括:

4.如权利要求3所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述计算所述样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值,包括:

5.如权利要求3所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述测量所述样品在各绑点灰阶下各单色的实际亮度值,包括:

6.如权利要求1所述的显示模组的伽...

【技术特征摘要】

1.一种显示模组的伽马校正方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述样品的个数为多个;

3.如权利要求1所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述计算所述样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值和实际亮度值的比值,包括:

4.如权利要求3所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述计算所述样品在各绑点灰阶下各单色的理论亮度值,包括:

5.如权利要求3所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述测量所述样品在各绑点灰阶下各单色的实际亮度值,包括:

6.如权利要求1所述的显示模组的伽马校正方法,其特征在于,所述计算所述待校正显示模组各单色的实际亮度值与伽马寄存器值的对应关系,包括:

7.如...

【专利技术属性】
技术研发人员:付文悦郭云李明宸张文兆姚远董正逵
申请(专利权)人:合肥维信诺科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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