【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于精准装配技术研究领域，具体涉及一种考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法。
技术介绍
1、装配作为复杂产品制造的最后一环，其精度是衡量产品质量和性能的重要指标之一，随着航空、航天等高端制造领域对复杂装备的高品质、高质量需求不断提高，对产品装配精度分析的准确性提出了更高的要求。而复杂产品装配工艺繁杂、敏感要素多且可追溯性差，使得装配偏差不断传播与累积，调控难以精准量化，导致装配精度差、一次装配合格率低等问题，严重影响产品性能。因此，实现装配偏差的精准预测至关重要。
2、装配偏差预测主要包括偏差模型构建与装配偏差传播两方面的研究。目前的装配偏差计算多是在理想接触表面条件下通过极值法或统计法进行的，而零部件本身的制造误差与装配载荷、定位加紧引起的接触变形均会对装配偏差分析结果造成一定影响，故装配结合面形位误差建模与接触变形的精确计算是偏差预测模型精准构建的关键。
3、对于载荷引起的装配接触变形计算最常用的方法为有限元分析，但其计算成本高、前处理复杂等缺点难以满足装配过程偏差实时预测的需求，延长产品...
【技术保护点】
1.一种考虑结合面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：
3.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：
4.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：
5.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤S4具体包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种考虑结合面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤s1具体包括：
3.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配偏差预测方法，其特征在于，所述步骤s2具体包括：
4.根据权利要求1所述的考虑表面宏微观特征与装配变形的装配...
【专利技术属性】
技术研发人员：王广越，刘佳明，陈涛，于智龙，李春晖，李艳龙，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：
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