蚀刻液组合物制造技术

技术编号:44964963 阅读:38 留言:0更新日期:2025-04-12 01:36
本发明专利技术在一个方式中提供一种保存稳定性优异的蚀刻液组合物。本发明专利技术在一个方式中涉及一种蚀刻液组合物,其用于蚀刻包含至少1种金属的被蚀刻层,上述蚀刻液组合物包含硝酸、数均分子量为300以上的多元胺、分子量小于300的含氮碱性化合物、及水。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及一种蚀刻液组合物及使用其的蚀刻方法。


技术介绍

1、在半导体装置的制造过程中,例如进行蚀刻包含钨、钽、锆、铪、钼、铌、钌、锇、铼、铑、铜、镍、钴、钛、氮化钛、氧化铝、铝、及铱等至少1种金属的被蚀刻层来加工成规定的图案形状的工序。

2、近年来,半导体领域不断推进高集成化,业界要求布线复杂化、微细化,对图案的加工技术或蚀刻液的要求也逐步提高,提出有各种蚀刻方法或蚀刻液。

3、例如日本特开2012-49535号公报(专利文献1)中提出有一种方法,其使用包含50~80质量%的磷酸、0.5~10质量%的硝酸、5~30质量%的乙酸、及0.01~5质量%的咪唑的蚀刻液组合物,来一次性地蚀刻处理铜/钼(cu/mo)层叠金属膜等多重膜。

4、日本特开2015-144230公报(专利文献2)中提出有一种方法,其使用包含硝酸、含氟化合物、及具有多个含有氮原子的重复单元的含氮有机化合物a或含磷化合物b的蚀刻液,来蚀刻处理含钛层与含硅层。

5、日本特开2013-237873号公报(专利文献3)中提出有一种蚀刻液,其用于蚀本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种蚀刻液组合物,其用于蚀刻包含至少1种金属的被蚀刻层,

2.根据权利要求1所述的蚀刻液组合物,其中,硝酸的以质量%计的配合量a、数均分子量为300以上的多元胺的以质量%计的配合量b、及分子量小于300的含氮碱性化合物的以质量%计的配合量c满足关系(a-c)4/b≤600。

3.根据权利要求1或2所述的蚀刻液组合物,其还包含除硝酸以外的酸。

4.根据权利要求3所述的蚀刻液组合物,其中,除硝酸以外的酸为选自磷酸、乙酸、甲氧基乙酸、及乙氧基乙酸中的至少1种。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的蚀刻液组合物,其中,所述金属为选自钨、钽、锆、...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种蚀刻液组合物,其用于蚀刻包含至少1种金属的被蚀刻层,

2.根据权利要求1所述的蚀刻液组合物,其中,硝酸的以质量%计的配合量a、数均分子量为300以上的多元胺的以质量%计的配合量b、及分子量小于300的含氮碱性化合物的以质量%计的配合量c满足关系(a-c)4/b≤600。

3.根据权利要求1或2所述的蚀刻液组合物,其还包含除硝酸以外的酸。

4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:内田洋平
申请(专利权)人:花王株式会社
类型:发明
国别省市:

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