一种基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置及方法，所述装置包括入射激光光源、散射平面、光纤旋转夹具、信息提取工具；通过获取散射光的特征轮廓信息，计算散射光强度离散程度，根据散射光强度离散程度与中心波长偏移量的线性关系，得到光纤光栅器件的偏振依赖性结果，实现对于飞秒激光加工的光纤光栅器件偏振依赖性的快速检测。本发明专利技术的检测方法基于散射光分布的特征轮廓，可快速识别由栅区调制截面椭圆度引起的偏振依赖特性，为低偏振相关损耗光纤光栅的鉴别提供了一种高效且便捷的手段。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤光栅器件检测，具体涉及一种基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置及方法。

技术介绍

1、光纤光栅是一种光纤传感领域十分重要的无源器件，其作为传感器通过监测反射光中心波长的偏移来感知外界环境的变化，具有体积小、质量轻、灵敏度高、耐腐蚀性好、抗电磁干扰能力强、支持分布式监控等优点，在生物医疗行业、动力电池安全监控方面以及传统的大型工程中都有着广泛的应用前景。

2、偏振相关损耗(pdl-polarization dependent loss)是影响光纤光栅传感性能的重要因素之一，是描述光器件或光学系统中，由于光的不同偏振态而导致光信号强度变化的一种物理现象，主要用来衡量光器件对于传输光偏振态的敏感程度。对于光纤光栅器件而言，输入光的偏振态发生变化时，不同偏振态的光会表现出不同的波长偏移。当偏振相关损耗过大时会影响光纤光栅反射谱的稳定性，造成测量结果出现明显的误差，从而导致光纤光栅的传感性能下降。因此，如何快速识别低pdl光纤光栅器件对于高质量光纤光栅器件的生产具有重要意义。

3、飞秒激光直写技术因其独特的优势，在光纤光栅本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，包括：入射激光光源、散射平面、光纤旋转夹具、信息提取工具；

2.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述散射平面上设置有可供光纤穿过的插芯。

3.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述光纤旋转夹具上标有角度刻度。

4.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述信息提取工具选自光电二极管功率探头与功率计的组合设备、光电探测器与示波器的组合设备、CMOS图像传感器、CCD图像传感器中的一种。...

【技术特征摘要】

1.一种基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，包括：入射激光光源、散射平面、光纤旋转夹具、信息提取工具；

2.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述散射平面上设置有可供光纤穿过的插芯。

3.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述光纤旋转夹具上标有角度刻度。

4.根据权利要求1所述的基于散射光检测光纤光栅偏振依赖性的装置，其特征在于，所述信息提取工具选...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋楠，李志轩，符壮恩，
申请(专利权)人：上海津镭光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：