【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及金属材料检测，特别涉及一种基于正交几何结构的金属材料应力或裂纹检测系统及方法。
技术介绍
1、传统交流电磁场检测技术通常采用单线圈激励方式，在被检工件表面产生方向固定的均匀感应电流。当工件表面存在与电流方向垂直的横向裂纹或主应力方向时，应力或裂纹沿长度方向会引起局部磁场的扰动，导致感应电流在应力集中区内部或裂纹端点处聚集并形成畸变磁场，通过测量磁场信号可以实现对应力集中或裂纹的检测与定量分析。然而，当表面出现纵向裂纹或应力损伤时，应力损伤或裂纹宽度方向引起的磁场扰动较小，导致应力损伤或裂纹缺陷的检测与分析效果不佳。在实际检测中，由于主应力方向或裂纹走向未知，操作人员无法始终沿着主应力方向或裂纹方向进行扫描，因此采用单一激励探头在检测不锈钢表面应力集中或斜裂纹时，可能会导致检测灵敏度下降，甚至出现漏检现象。为避免漏检问题，通常需要进行多方向扫描或采用机械旋转探头。然而，这些方法会显著增加检测时间和系统复杂性，进而降低检测效率。
2、平衡电磁技术在实际应用中亦存在一定的局限性，尤其是在主应力方向或裂纹方向与电磁检测...
【技术保护点】
1.一种正交检测探头，其特征在于，正交检测探头由两个U型铁芯正交设置组成，每个U型铁芯的两端均缠绕有励磁线圈，且两端缠绕的励磁线圈串联，其中一端的励磁线圈为检测线圈。
2.根据权利要求1所述的正交检测探头，其特征在于，所述正交检测探头的两个U型铁芯正交设置中，两个U型铁芯相互非接触。
3.一种采用如权利要求1所述的正交检测探头的基于正交几何结构的金属材料应力或裂纹检测系统，其特征在于，正交检测探头下方设置有三维磁场传感器，三维磁场传感器与微处理器连接；正交检测探头上的励磁线圈连接于阻抗分析单元，阻抗分析单元与微处理器连接，微处理器与上位机显示单
【技术特征摘要】
1.一种正交检测探头，其特征在于，正交检测探头由两个u型铁芯正交设置组成，每个u型铁芯的两端均缠绕有励磁线圈，且两端缠绕的励磁线圈串联，其中一端的励磁线圈为检测线圈。
2.根据权利要求1所述的正交检测探头，其特征在于，所述正交检测探头的两个u型铁芯正交设置中，两个u型铁芯相互非接触。
3.一种采用如权利要求1所述的正交检测探头的基于正交几何结构的金属材料应力或裂纹检测系统，其特征在于，正交检测探头下方设置有三维磁场传感器，三维磁场传感器与微处理器连接；正交检测探头上的励磁线圈连接于阻抗分析单元，阻抗分析单元与微处理器连接，微处理器与上位机显示单元连接。
4.根据权利要求3所述的基于正交几何结构的金属材料应力或裂纹检测系统，其特征在于，所述阻抗分析单元是采用ad5933阻抗分析芯片，ad5933阻抗分析芯片上设有多个引脚，引脚9连接数字电源，引脚10和引脚11为模拟电源，引脚12与微处理器的数字部分接地，引脚13和引脚14与微处理器的模拟部分接地，引...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑福印，黄平，王闯，李岳，窦杰，马龙，孔铭阳，周权超，李开明，邱志川，李远远，宋世杰，白石，邢燕好，
申请(专利权)人：沈阳工业大学，
类型：发明
国别省市：
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