测卷径系统技术方案

本技术提供一种可准确测量转棍上的料卷直径的测卷径系统，以解决真空中料卷测量难、测量不准确的问题，涉及测量技术领域。测卷径系统，包括测长传感器、位置传感器、控制器和用于收券或开卷带材的转辊；所述转辊上设有感应结构，所述位置传感器与所述感应结构配合，以用于测量所述转辊的转动位置；所述测长传感器设置在所述带材的移动路径上，以测量所述带材的移动长度；所述位置传感器与所述控制器电连接，以向所述控制器提供所述转辊的转动位置信号；所述控制器与所述测长传感器电连接。本技术有利于更精确的控制带材的开卷或收卷速度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量，具体是一种测卷径系统。

技术介绍

1、在带材开卷或收卷过程中，随着转辊上的料卷厚度的增多或减少，料卷的开卷或收卷速度也会相应的发生变化。为了避免生产过程中出现带材被拉断以及带材过松等情况，需要根据转辊上料卷的直径相应调整转棍驱动电机的转速，以达到调整转辊的转速，控制带材的收卷或开券速度，以使其与产线速度匹配的目的。

2、随着锂电新能源领域工业现代化进程的发展，真空开收卷设备越来越多。在真空环境中因超声波无法传导，因此，难以运用超声波传感器直接测量转辊上的卷材直径。虽然，在真空中也可以采用光电传感器测量到料卷的外径的距离以及到料卷圆心的距离的方式计算出卷材的直径，但该方式受真空环境因素影响，光电传感器测量数据不稳定，经常出现测量数据异常跳动，影响plc数据读取准确的数据，真空度越高测量数据异常跳动越大，而且真空压力很容易损坏光电传感器器内部元器件，影响使用寿命，另外卷材和转棍的同心度、料卷的圆度的影响较大，而实际中较难以保证卷材和转棍的同心度，料卷的圆度也难以保证。因此，现目前主要采用在料卷上设备前先人工测量料卷直径，再将料卷的直本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.测卷径系统，其特征在于：包括测长传感器(4)、位置传感器(5)、控制器(6)和安装在真空腔(8)内以用于收券或开卷带材(7)的转辊(1)；

2.如权利要求1所述的测卷径系统，其特征在于：所述控制器(6)为PLC控制器。

3.如权利要求1所述的测卷径系统，其特征在于：所述测长传感器(4)为滚轮接触式测长传感器。

4.如权利要求3所述的测卷径系统，其特征在于：还包括设置在所述带材(7)的移动路径上用于张紧所述带材(7)的张紧机构。

5.如权利要求4所述的测卷径系统，其特征在于：所述带材(7)绕设在所述测长传感器(4)的滚轮上，所述张紧机构包...

【技术特征摘要】

1.测卷径系统，其特征在于：包括测长传感器(4)、位置传感器(5)、控制器(6)和安装在真空腔(8)内以用于收券或开卷带材(7)的转辊(1)；

2.如权利要求1所述的测卷径系统，其特征在于：所述控制器(6)为plc控制器。

3.如权利要求1所述的测卷径系统，其特征在于：所述测长传感器(4)为滚轮接触式测长传感器。

4.如权利要求3所述的测卷径系统，其特征在于：还包括设置在所述带材(7)的移动路径上用于张紧所述带材(7)的张紧机构。

5.如权利要求4所述的测卷径系统，其特征在于：所述带材(7)绕设在所述测长传感器(4)的滚轮上，所述张紧机构包括第一支撑辊(31)和第二支撑辊(32)，所述第一支撑辊(31)设置在所述测长传感器(4)的前方，以向所述测长传感器(4)的滚轮的前方支撑所述带材(7)，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：向江雄，邹崴，杨粟平，张斌，
申请(专利权)人：天齐卫蓝固锂新材料湖州有限公司，
类型：新型
国别省市：