【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及智能测试，尤其涉及一种晶振频偏测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、晶振是电路板中常用的元器件，为了使电路板能稳定工作，在电路板出厂之前需要对晶振进行频偏测量。当前技术方法中有几种常见的晶振频偏测试方法，如频率计法、示波器检测法及频谱分析仪法，然而频率计法和示波器检测法中进行测量的仪器精度较低；频谱分析仪能满足高精度晶振测试，但其价格较高，无法实现低成本对晶振进行测量。因此，现有技术中用于晶振测量的技术方法存在测量准确性不高的问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种晶振频偏测试方法、装置、设备及介质，旨在解决现有技术中用于晶振测量的技术方法所存在的测量准确性不高的问题。
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种晶振频偏测试方法，其中，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，所述测试方法包括：
3、若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测仪检测得到的波形图像；
4、根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率；
5、根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果；
6、对所述偏差分析结果是否符合所述晶振规格信息进行判断，得到对应的频偏测试结果。
7、第二方面，本申请实施例还提供了一种晶振频偏测试装置，其中，所述测试装
8、波形图像获取单元，用于若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测仪检测得到的波形图像；
9、参考频率获取单元，用于根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率；
10、偏差分析结果获取单元，用于根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果；
11、频偏测试结果获取单元，用于对所述偏差分析结果是否符合所述晶振规格信息进行判断，得到对应的频偏测试结果。
12、第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口、存储器通过通信总线完成相互间的通信；
13、存储器，用于存放计算机程序；
14、处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如上述第一方面所述的晶振频偏测试方法。
15、第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的晶振频偏测试方法的步骤。
16、本专利技术实施例提供了一种晶振频偏测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测仪检测得到的波形图像；根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率；根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果；对所述偏差分析结果是否符合所述晶振规格信息进行判断，得到对应的频偏测试结果。上述测试方法，能够通过获取波形图像并结合晶振规格信息，对波形图像与所述参考频率进行分析得到偏差分析结果，从而准确得到是否存在频偏的测试结果，大幅提高了对电路板中晶振进行测试的准确性。
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1.一种晶振频偏测试方法，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，其特征在于，所述测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率，包括：
3.根据权利要求2所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率之前，还包括：
4.根据权利要求3所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率之前，还包括：
5.根据权利要求4所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述计算相邻谐波频率之间的幅值衰减系数之前，还包括：
6.根据权利要求2-4任一项所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述根据预置的偏差分析规则对所述波形图像与所述参考频率进行偏差分析，得到对应的偏差分析结果，包括：
7.根据权利要求2-4任一项所述的晶振
8.一种晶振频偏测试装置，其特征在于，所述测试装置配置于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，所述测试装置包括：
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口、存储器通过通信总线完成相互间的通信；
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的晶振频偏测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种晶振频偏测试方法，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，其特征在于，所述测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率，包括：
3.根据权利要求2所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率之前，还包括：
4.根据权利要求3所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率之前，还包括：
5.根据权利要求4所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述计算相邻谐波频率之间的幅值衰减系数之前，还包括：
6.根据权利要求2-4任一项所述的晶振频...
【专利技术属性】
技术研发人员：张江波，陈仲才，梁锦旺，梁锦辉，谭业，
申请(专利权)人：深圳新芯智能有限公司，
类型：发明
国别省市：
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