【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及智能测试，尤其涉及一种晶振频偏测试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、晶振是电路板中常用的元器件，为了使电路板能稳定工作，在电路板出厂之前需要对晶振进行频偏测量。当前技术方法中有几种常见的晶振频偏测试方法，如频率计法、示波器检测法及频谱分析仪法，然而频率计法和示波器检测法中进行测量的仪器精度较低；频谱分析仪能满足高精度晶振测试，但其价格较高，无法实现低成本对晶振进行测量。因此，现有技术中用于晶振测量的技术方法存在测量准确性不高的问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种晶振频偏测试方法、装置、设备及介质，旨在解决现有技术中用于晶振测量的技术方法所存在的测量准确性不高的问题。
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种晶振频偏测试方法，其中，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，所述测试方法包括：
3、若接收到所输入的晶振规格信息，获取所述检测...
【技术保护点】
1.一种晶振频偏测试方法，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，其特征在于，所述测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率，包括：
3.根据权利要求2所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率之前，还包括：
4.根据权利要求3所述的晶振频偏测试方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种晶振频偏测试方法，所述测试方法应用于测试终端中，所述测试终端与检测仪进行通信连接以实现数据信息的传输，所述检测仪的探头靠近待测晶振以对待测晶振进行频偏测试，其特征在于，所述测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述根据预置的频率确定规则及所述波形图像确定与所述晶振规格信息对应的参考频率，包括：
3.根据权利要求2所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述从多个所述备选频率中获取与所述波形图像中主频率最接近的一个备选频率作为参考频率之前，还包括：
4.根据权利要求3所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述确定幅值最大的一个谐波频率作为所述波形图像的主频率之前，还包括：
5.根据权利要求4所述的晶振频偏测试方法，其特征在于，所述计算相邻谐波频率之间的幅值衰减系数之前，还包括：
6.根据权利要求2-4任一项所述的晶振频...
【专利技术属性】
技术研发人员：张江波，陈仲才，梁锦旺，梁锦辉，谭业，
申请(专利权)人：深圳新芯智能有限公司，
类型：发明
国别省市：
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