【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试，尤其涉及一种芯片稳定性长效测试平台。
技术介绍
1、芯片在出场前，需要进行温度循环测试、湿度测试、振动与冲击测试和电源波动测试等，用来评估芯片性能稳定性是否合格。
2、目前的芯片测试平台技术较为成熟，但芯片测试时间过长，测试结束后需人工更换芯片和将测试后的芯片转移至良品区和次品区，大大降低了测试效率，因此提出一种芯片稳定性长效测试平台。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在芯片测试时间过长，测试结束后需人工更换芯片和将测试后的芯片转移至良品区和次品区，大大降低了测试效率的缺点，而提出的一种芯片稳定性长效测试平台。
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
3、一种芯片稳定性长效测试平台，包括传动机构，所述传动机构的一侧右边设有用于运送芯片的传送机构，所述传动机构的一侧中部设有用于对芯片进行检测的检测机构，所述传动机构的一侧左边设有用于筛分芯片的筛分机构，所述筛分机构包括用于支撑的支撑机构，所述支撑机构的上方设有用...
【技术保护点】
1.一种芯片稳定性长效测试平台，包括传动机构(1)，其特征在于，所述传动机构(1)的一侧右边设有用于运送芯片的传送机构(3)，所述传动机构(1)的一侧中部设有用于对芯片进行检测的检测机构(4)，所述传动机构(1)的一侧左边设有用于筛分芯片的筛分机构，所述筛分机构包括用于支撑的支撑机构(5)，所述支撑机构(5)的上方设有用于翻转筛分的翻转机构(6)，所述翻转机构(6)的上方设有用于放置芯片的芯片放置台(7)；
2.根据权利要求1所述的一种芯片稳定性长效测试平台，其特征在于，所述夹取机构(2)包括测试盒(21)，所述测试盒(21)的底部固定连接有限位板一(22...
【技术特征摘要】
1.一种芯片稳定性长效测试平台，包括传动机构(1)，其特征在于，所述传动机构(1)的一侧右边设有用于运送芯片的传送机构(3)，所述传动机构(1)的一侧中部设有用于对芯片进行检测的检测机构(4)，所述传动机构(1)的一侧左边设有用于筛分芯片的筛分机构，所述筛分机构包括用于支撑的支撑机构(5)，所述支撑机构(5)的上方设有用于翻转筛分的翻转机构(6)，所述翻转机构(6)的上方设有用于放置芯片的芯片放置台(7)；
2.根据权利要求1所述的一种芯片稳定性长效测试平台，其特征在于，所述夹取机构(2)包括测试盒(21)，所述测试盒(21)的底部固定连接有限位板一(22)，所述测试盒(21)的一侧外壁固定连接有安装板(23)，所述安装板(23)与测试盒(21)连接的一侧开设有容纳槽(24)，所述测试盒(21)与安装板(23)连接的一侧固定连接有安装块(25)，所述安装块(25)的底部固定连接有伸缩杆一(26)，所述安装块(25)与伸缩杆一(26)均容纳在容纳槽(24)内，所述伸缩杆一(26)的另一端固定连接有延伸杆(27)，所述延伸杆(27)的顶部固定连接有置物盘(28)，所述安装板(23)的一侧外壁固定连接有滑块(29)，所述滑块(29)滑动连接在滑动槽(12)内，螺纹杆(13)螺纹贯穿所述滑块(29)。...
【专利技术属性】
技术研发人员：张哲，秦士伟，张文钰，
申请(专利权)人：上海芯沫微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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