传感器质检方法、装置、系统及存储介质制造方法及图纸

技术编号:44854807 阅读:29 留言:0更新日期:2025-04-01 19:47
本申请涉及传感器技术领域,公开了一种传感器质检方法、装置、系统及存储介质,用于利用中继器和上位机实现无线传感器的灵活质检,适应不同测试需求。传感器质检方法包括:通过上位机呈现中继器上报的传感器状态数据;在当前测试批次存在不良品时,从所述当前测试批次中选择目标传感器执行改变传感器状态的第一目标措施方案;根据所述上位机中显示的传感器状态是否跟随所述第一目标措施方案变化确定所述目标传感器为良品或不良品。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及传感器,尤其涉及一种传感器质检方法、装置、系统及存储介质


技术介绍

1、在现代工业和生活应用中,基于无线射频技术的传感器被广泛用于监测各种参数,如温度、湿度等。为保障产品质量,在生产工序中需设置多个质检环节,以筛选出数据广播距离过短、数据采集异常等不良品,避免不良品流通到下一个环节。

2、基于不同的市场需求,产品通常包括半成品和成品出货,半成品出货通常以电路板形式发往下游厂商,便于下游厂商进行组装、集成或二次开发。但是,部分无线传感器采用的射频方案无法被平板电脑、手机等通用设备识别,如采用433mhz射频方案的传感器只能通过专用质检设备进行测试,而专用质检设备价格昂贵且体积较大,传统的传感器质检方法对测试环境搭建要求高、灵活性低,难以适应不同的测试需求。


技术实现思路

1、本申请提供了一种传感器质检方法、装置、系统及存储介质,用于利用中继器和上位机实现灵活质检,适应不同测试需求。

2、本申请第一方面提供了一种传感器质检方法,包括:通过上位机呈现中继器上报的传感器状态数据;在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种传感器质检方法,其特征在于,所述传感器质检方法包括:

2.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,所述从所述当前测试批次中选择目标传感器执行改变传感器状态的第一目标措施方案,包括:

3.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,若依据所述上位机显示为不良品的传感器状态进行筛选,则根据所排查的异常种类确定第一目标措施方案,所述第一目标措施方案所采取的目标措施与所述异常种类不同;

4.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,所述上位机显示所述当前测试批次的全部传感器状态数据,所述当前测试批次包括良品和不良品

5....

【技术特征摘要】

1.一种传感器质检方法,其特征在于,所述传感器质检方法包括:

2.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,所述从所述当前测试批次中选择目标传感器执行改变传感器状态的第一目标措施方案,包括:

3.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,若依据所述上位机显示为不良品的传感器状态进行筛选,则根据所排查的异常种类确定第一目标措施方案,所述第一目标措施方案所采取的目标措施与所述异常种类不同;

4.根据权利要求1所述的传感器质检方法,其特征在于,所述上位机显示所述当前测试批次的全部传感器状态数据,所述当前测试批次包括良品和不良品;

5.根据权利要求4所述的传感器质检方法,其特征在于,在所述若是,则将所述目标状态特征对应的目...

【专利技术属性】
技术研发人员:王旬贵李华优郑佳明
申请(专利权)人:珠海美佳音科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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