【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测量位移，具体涉及一种基于激光干涉条纹的位移三角测量装置及方法。
技术介绍
1、精密位移测量技术及设备是工业生产中的核心功能部件。目前常见的位移测量方式主要有光学干涉式测量、时栅式测量等。时栅式的测量方法依靠包含空间与时间信息的行波信号，位移测量精度相对较高，但需要极高精度的安装、制造，以防止栅距之间的一致性被破坏；传统光学干涉式测量方法可以满足大量程、高精度要求，但它也同时存在光学干涉系统复杂、造价昂贵等问题，并且容易受到空气扰动、湿度变化等因素影响。而本专利技术所提出的基于激光干涉条纹的位移三角测量装置及方法与传统的圆形光斑激光三角测量技术相比，具有测量精度高，条纹光斑包含特征信息多，系统构成简单，安装便利、非接触式等优点，适用范围得到极大提高。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提出一种基于激光干涉条纹的位移三角测量装置及方法；测量装置结构简单，测量方法测量精度高，易于实现。
2、为实现上述目的，本专利技术的技术方案如下：
3、一种基于激...
【技术保护点】
1.一种基于激光干涉条纹的位移三角测量装置，其特征在于，包括线阵相机、双狭缝光阑、激光光源和图像处理系统；所述线阵相机用以采集激光穿过双狭缝光阑形成并经待测物体表面反射后接收到的干涉条纹信号，并将采集到的条纹信号传输至图像处理系统；所述双狭缝光阑与激光光源组装为模块以产生干涉条纹；所述激光光源用以发出激光穿过双狭缝光阑形成干涉条纹；所述图像处理系统对条纹图像进行分析处理，得到待测物体的位移信息。
2.一种基于激光干涉条纹的位移三角测量方法，其特征在于，所述方法采用权利要求1所述的基于激光干涉条纹的位移三角测量装置实现，包括以下步骤：
3.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种基于激光干涉条纹的位移三角测量装置，其特征在于，包括线阵相机、双狭缝光阑、激光光源和图像处理系统；所述线阵相机用以采集激光穿过双狭缝光阑形成并经待测物体表面反射后接收到的干涉条纹信号，并将采集到的条纹信号传输至图像处理系统；所述双狭缝光阑与激光光源组装为模块以产生干涉条纹；所述激光光源用以发出激光穿过双狭缝光阑形成干涉条纹；所述图像处理系统对条纹图像进行分析处理，得到待测物体的位移信息。
2.一种基于激光干涉条纹的位移三角测量方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟剑锋，冯斌，黄云华，施羽涵，钟舜聪，刘东明，叶爱丽，苏正飞，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：发明
国别省市：
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