一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法技术

本发明专利技术公开了一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法，该光源是由镜像对称的两个斜照线光源组成，任意一个斜照线光源的LED灯板发出的均匀线发散光束先照射至该斜照线光源的凹柱面反射镜，该凹柱面反射镜会将均匀线发散光束会聚成均匀线会聚光束并转折反射至该斜照线光源的平面反射镜，然后经平面反射镜再次转折反射并通过该斜照线光源的椭圆光扩散板扩散，最后交叉照射在该同轴线光源的发光面G上，并在发光面G的对称中心线上叠加成具有交叉性、倾斜照射性、线均匀性特点的照明线光束。本发明专利技术同轴线光源相较于传统线光源，可以更好地应用于高精度线扫描检测场景中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于机器视觉照明光源，涉及一种用于高精度线扫描检测场景应用，具有双角度倾斜线光照明、均匀线光照明特点的同轴线光源及其设计方法。

技术介绍

1、高精度线扫描检测是一种利用线阵扫描相机进行高精度图像采集和处理的检测技术。它可以应用于各种需要高精度、高速度检测的应用场景，例如电子制造、半导体生产、医疗设备等。在高精度线扫描检测中，除需要高分辨率线阵相机、高速采集和传输处理技术、高精度图像处理算法和精准的机械运动控制外，还需要一个关键的光源照明系统，通常是线光源照明系统。用于高精度线扫描检测场景的稳定的线光源照明系统至少需要具有以下特点：1）需要能够提供高亮稳定均匀的光照条件，确保图像一致性和对比度；2）需要有一定的低角度或者高角度的倾斜照明性，可以提高缺陷检出率；3）多角度线光照明设计以增加照明光场信息的丰富度，多个照明光场叠加不仅会提高光照度，还会丰富缺陷检出类型和提高缺陷拍出效果。

2、目前机器视觉照明领域的线光源主要以led线光源为主。传统的led线光源包括恒定亮度、高亮度、可调亮度、频闪和多波段led线光源等等，以及在此基础上加上简本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源，其特征在于，所述同轴线光源位于待检测物体与外部线扫相机之间，与外部线扫相机构成同轴成像结构；所述待检测物体的待检面位于同轴线光源的发光面G上，所述外部线扫相机的线扫中心线与同轴线光源的发光面G的对称中心线平行，且两条线所确定的镜像平面P垂直于待检测物体的待检面；所述同轴线光源包括：左斜照线光源和右斜照线光源，且所述左斜照线光源和右斜照线光源关于所述镜像平面P对称放置；

2.根据权利要求1所述的一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源，其特征在于，所述左LED灯板(1L3)、左凹柱面反射镜(1L4)、左平面反射镜(1L5)和左椭圆光扩散板(...

【技术特征摘要】

1.一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源，其特征在于，所述同轴线光源位于待检测物体与外部线扫相机之间，与外部线扫相机构成同轴成像结构；所述待检测物体的待检面位于同轴线光源的发光面g上，所述外部线扫相机的线扫中心线与同轴线光源的发光面g的对称中心线平行，且两条线所确定的镜像平面p垂直于待检测物体的待检面；所述同轴线光源包括：左斜照线光源和右斜照线光源，且所述左斜照线光源和右斜照线光源关于所述镜像平面p对称放置；

2.根据权利要求1所述的一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源，其特征在于，所述左led灯板(1l3)、左凹柱面反射镜(1l4)、左平面反射镜(1l5)和左椭圆光扩散板(1l6)的长度相同，且右led灯板(1r3)、右凹柱面反射镜(1r4)、右平面反射镜(1r...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢荣胜，谈士涛，
申请(专利权)人：无锡维度机器视觉产业技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：