一种方便定位的基坑检测校准装置制造方法及图纸

本申请公开了一种方便定位的基坑检测校准装置，其包括基坑本体和两个支撑滑轨，其中两个所述支撑滑轨分别位于基坑本体的顶部两侧，还包括定位检测机构，其位于两个支撑滑轨之间，以用于对基坑本体内的不同区域进行定位检测深度；两个尺寸调节机构，其分别位于两个支撑滑轨的一端，以用于调节改变支撑滑轨的尺寸长度；本方案，通过设置尺寸调节机构，可便于根据使用需要对支撑滑轨的长度尺寸进行调节改变，从而无需更换不同长度尺寸的支撑滑轨，因此达到了操作简单便捷，省时省力，便于对不断增长长度的基坑进行检测校准的目的，并且通过设置定位检测机构，可便于对检测位置进行调节定位，从而达到了便于对基坑内不同点位进行定位检测的目的。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及基坑检测校准装置的，尤其是涉及一种方便定位的基坑检测校准装置。

技术介绍

1、基坑是在基础设计位置按基底标高和基础平面尺寸所开挖的土坑，开挖前应根据地质水文资料，结合现场附近建筑物情况，决定开挖方案，并作好防水排水工作，开挖不深者可用放边坡的办法，使土坡稳定，其坡度大小按有关施工规定确定，开挖较深及邻近有建筑物者，可用基坑壁支护方法，喷射混凝土护壁方法，大型基坑甚至采用地下连续墙和柱列式钻孔灌注桩连锁等方法，防护外侧土层坍入，而基坑在挖掘的过程中，为了使基坑的挖掘深度保持一致，往往需要对基坑的挖掘深度进行检测校准。

2、而现有的基坑在对挖掘深度进行检测校准时，传统的方法是通过人工手持标尺下入到基坑内部，然后通过水准仪观察标尺的刻度以此来对基坑的深度进行检测校准，此种方法受人工操作影响往往误差较大且人工进入基坑的危险性也较高，因此，通过在基坑的顶部架设支架，通过激光测距仪在支架上移动来对基坑的深度进行检测校准的方式被广泛应用；

3、然而在采用激光测距仪对基坑深度进行检测校准时，由于施工场地的基坑在挖掘的过程中是首先将基坑的宽本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种方便定位的基坑检测校准装置，包括基坑本体(1)和两个支撑滑轨(2)，其特征在于：其中两个所述支撑滑轨(2)分别位于基坑本体(1)的顶部两侧，还包括

2.根据权利要求1所述的一种方便定位的基坑检测校准装置，其特征在于：所述旋转折叠组件(7)包括旋转槽(701)、旋转支撑杆(702)、旋转块(703)和两个扭簧(704)，所述旋转槽(701)开设于支撑滑轨(2)的一端，所述旋转支撑杆(702)的两端固定连接于旋转槽(701)的两端，所述延长滑轨(601)的一端通过旋转块(703)转动连接于旋转支撑杆(702)的中部，两个所述扭簧(704)的两端分别固定连接于旋转槽(701...

【技术特征摘要】

1.一种方便定位的基坑检测校准装置，包括基坑本体(1)和两个支撑滑轨(2)，其特征在于：其中两个所述支撑滑轨(2)分别位于基坑本体(1)的顶部两侧，还包括

2.根据权利要求1所述的一种方便定位的基坑检测校准装置，其特征在于：所述旋转折叠组件(7)包括旋转槽(701)、旋转支撑杆(702)、旋转块(703)和两个扭簧(704)，所述旋转槽(701)开设于支撑滑轨(2)的一端，所述旋转支撑杆(702)的两端固定连接于旋转槽(701)的两端，所述延长滑轨(601)的一端通过旋转块(703)转动连接于旋转支撑杆(702)的中部，两个所述扭簧(704)的两端分别固定连接于旋转槽(701)的一端和旋转块(703)的一端。

3.根据权利要求1所述的一种方便定位的基坑检测校准装置，其特征在于：所述限位组件(8)包括两个限位旋片(801)、两个限位扣(802)和两个限位滑槽(803)，两个所述限位旋片(801)呈对称式转动连接于支撑滑轨(2)的另一端，两个所述限位扣(802)分别固定连接于两个限位旋片(801)的一端，两个所述限位滑槽(803)呈对称式开设于延长滑轨(601)的另一端，且两个所述限位滑槽(803)与两个限位扣(802)相契...

【专利技术属性】
技术研发人员：范顺意，钟鑫顺，
申请(专利权)人：湖北顺意通建设有限公司，
类型：新型
国别省市：