显示不均补偿设备和显示不均补偿方法技术

根据本发明专利技术的实施方式的用于检测通过显示面板显示的图像的显示不均并补偿所检测到的显示不均的显示不均补偿设备包括：测试图像供应单元，测试图像供应单元用于向显示面板供应第一图像数据和第二图像数据；以及测试图像捕获单元，测试图像捕获单元用于捕获响应于第一图像数据和第二图像数据而显示在显示面板上的第一图像和第二图像中的每一者。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

显示图像的代表性显示设备包括使用液晶的液晶显示器(lcd)和使用有机发光二极管的有机发光二极管(oled)显示器。此类显示面板可能具有其中由于制造过程中的不规则性而在显示面板的特定像素或区域中可见亮点或污点的缺陷。

技术介绍

1、本专利技术旨在解决上述问题，并且其技术目标是提供一种用于使其中由于在显示面板的制造过程中的不均匀性而在特定像素和一些区域中可见亮点或污点的缺陷最小化的显示不均(mura)补偿设备和显示不均补偿方法。

技术实现思路

1、技术问题

2、本专利技术旨在解决上述问题，并且其技术目标是提供一种用于使其中由于在显示面板的制造过程中的不均匀性而导致在特定像素和一些区域中可见亮点或污点的缺陷最小化的显示不均补偿设备和显示不均补偿方法。

3、技术解决方案

4、一种用于检测显示在显示面板上的图像中的显示不均并补偿所检测到的显示不均的显示不均补偿设备可包括：测试图像供应部分，测试图像供应部分被配置为向显示面板供应第一图像数据和第二图像数据；以及测试图像捕获部分，测试图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示不均补偿设备，所述显示不均补偿设备用于检测显示在显示面板上的图像中的显示不均并补偿所检测到的显示不均，所述显示不均补偿设备包括：

2.根据权利要求1所述的显示不均补偿设备，其中，所述显示不均补偿部分被配置为基于所述第一捕获图像数据生成第一代表性图像数据，基于所述第二捕获图像数据生成第二代表性图像数据，并且通过使用所述第一代表性图像数据和所述第二代表性图像数据来补偿所述显示不均。

3.根据权利要求2所述的显示不均补偿设备，其中，

4.根据权利要求1所述的显示不均补偿设备，其中，所述第一低灰度代表性亮度代码值和所述第二低灰度代表性亮度代码值以及...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种显示不均补偿设备，所述显示不均补偿设备用于检测显示在显示面板上的图像中的显示不均并补偿所检测到的显示不均，所述显示不均补偿设备包括：

2.根据权利要求1所述的显示不均补偿设备，其中，所述显示不均补偿部分被配置为基于所述第一捕获图像数据生成第一代表性图像数据，基于所述第二捕获图像数据生成第二代表性图像数据，并且通过使用所述第一代表性图像数据和所述第二代表性图像数据来补偿所述显示不均。

3.根据权利要求2所述的显示不均补偿设备，其中，

4.根据权利要求1所述的显示不均补偿设备，其中，所述第一低灰度代表性亮度代码值和所述第二低灰度代表性亮度代码值以及所述第一高灰度代表性亮度代码值和所述第二高灰度代表性亮度代码值各自是构成所述第一低灰度捕获图像数据和所述第二低灰度捕获图像数据以及所述第一高灰度捕获图像数据和所述第二高灰度捕获图像数据中的每一者的图像数据的平均值、众数值和中值中的一者。

5.根据权利要求1所述的显示不均...

【专利技术属性】
技术研发人员：张斗华，
申请(专利权)人：LX半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：