一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于雷达吸波材料测试技术领域，提出了一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置及方法，包括微波暗室，设置在微波暗室内的检测机构和被测对象放置机构，以及温控机构；检测机构包括设置在微波暗室内的第一支架，以及设置在第一支架上的发射天线和接收天线；被测对象放置机构包括设置在微波暗室内的第二支架，以及设置在第二支架上用于放置被测目标的罩体；温控机构包括温控箱，以及与温控箱连接的进风管和回风管；进风管和回风管远离温控箱的一端均与罩体的内部连通，通过温控箱控制进入罩体内的风量和风速，使得罩体内的温度和湿度满足预设要求，能够模拟真实环境，且罩体的设置可以保证被测材料的受热均匀性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于雷达吸波材料测试，尤其涉及一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置及方法。

技术介绍

1、为了降低装备的雷达探测性，在外形结构隐身的基础上，采用雷达吸波材料来减少雷达波的反射，这列的雷达吸波材料包括两类，一种是贴敷于装备表面的雷达吸波涂层，另外一类适用于装备伪装用的材料。雷达吸波材料性能的好坏，即其反射率的高低，对装备的隐身能力具有至关重要的影响。根据相关要求，雷达吸波材料反射率的测试方式主要包括弓形测试方法和远场rcs（radar cross section）测试方法，两种方法均可以获得可以信赖的测试结果。

2、实际上，隐身装备通常的工作环境非常复杂，高寒、高温和高湿等不同环境都可能影响到雷达吸波材料的性能，现有两种雷达吸波材料反射率测试方法均在室内常温环境下完成，无法反映真实环境下的雷达吸波材料的性能；而现有的高温测试方法通常是将被测材料加热到指定温度下，然后采用开放的方式进行测试，这种方法不仅测试复杂，而且会因被测材料受热不均匀以及温度变化引起测试误差。

技术实现思路

1、本本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，包括微波暗室，设置在所述微波暗室内的检测机构和被测对象放置机构，以及温控机构；

2.如权利要求1所述的一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，所述第二支架底部回风管口的上下侧和左右侧分别设置温湿度传感器；当预设的连续时间内，四个温湿度传感器中检测的最大温度与最小温度的差值大于预设温度差值时，增加进风速度，直到差值小于或等于预设温度差值后降低进风速度到初始值；以及，当预设的连续时间内，四个温湿度传感器中检测的最大湿度与最小湿度的差值大于预设湿度差值时，增加进风速度，直到差值小于或等于预设湿度差值后降低进...

【技术特征摘要】

1.一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，包括微波暗室，设置在所述微波暗室内的检测机构和被测对象放置机构，以及温控机构；

2.如权利要求1所述的一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，所述第二支架底部回风管口的上下侧和左右侧分别设置温湿度传感器；当预设的连续时间内，四个温湿度传感器中检测的最大温度与最小温度的差值大于预设温度差值时，增加进风速度，直到差值小于或等于预设温度差值后降低进风速度到初始值；以及，当预设的连续时间内，四个温湿度传感器中检测的最大湿度与最小湿度的差值大于预设湿度差值时，增加进风速度，直到差值小于或等于预设湿度差值后降低进风速度到初始值。

3.如权利要求1所述的一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，所述微波暗室的内壁上设置吸波材料，所述检测机构和所述被测对象放置机构之间设置有吸波屏风，所述吸波屏风靠近所述被测对象放置机构侧。

4.如权利要求3所述的一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，所述第二支架采用聚甲基丙烯酰亚胺泡沫材料，所述进风管和所述回风管位于所述第二支架内；所述罩体采用聚甲基丙烯酰亚胺泡沫材料。

5.如权利要求1所述的一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，其特征在于，所述第二支架通过转台设置在所述微波暗室内；所述转台中心安装双入双出气滑环；气滑环固定的一侧两个进气口，分别连接温控箱端的进风管和回风管；气滑环活动一侧的两个进气口，分别连接第一支架端的进风管和回风管。

6.一种高低温可控的雷达吸波材料反射率测试方法，其特征在于，使用了如权利要求1-5任一项所述的高低温可控的雷达吸波材料反射率测试装置，包括：通过所述温控箱控制进入所述罩体内的风量和风速，使得所述罩...

【专利技术属性】
技术研发人员：林宪琦，门飘飘，臧郝舒，
申请(专利权)人：青岛空天电子信息技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：