抛光组合物及其制备方法和应用技术

技术编号:44660331 阅读:17 留言:0更新日期:2025-03-19 20:18
本申请属于半导体技术领域,尤其涉及一种抛光组合物及其制备方法和应用。抛光组合物包括研磨颗粒、氧化剂、有机分散剂、无机分散剂、pH缓冲剂、pH调节剂和水;其中,氧化剂包括高锰酸盐,有机分散剂在研磨颗粒的表面形成有机包覆层,无机分散剂在有机包覆层的表面形成无机包覆层。通过有机分散剂的空间位阻和无机分散剂的静电稳定协同作用,使研磨颗粒获得良好的分散效果。同时,无机包覆层包覆在有机包覆层外表面,能够阻挡强氧化剂对有机包覆层的有机分散剂分子的氧化破坏,从而提供抛光组合物的分散稳定性和抛光稳定性。从而使得包含这些研磨颗粒的抛光组合物在加工第三代半导体材料时可以持续获得低缺陷和低粗糙度的表面。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于半导体,尤其涉及一种抛光组合物及其制备方法和应用


技术介绍

1、基于碳化硅材料制造的半导体器件具有高功率、耐高压、耐高温、高频率、低能耗等优点,正逐渐成为高功率、高频领域功率半导体的主流。在第三代半导体中,碳化硅除了可以作为功率器件的衬底和同质外延层外,还可以作为氮化镓射频器件的衬底。碳化硅衬底晶片是第三代半导体产业的基础和关键材料。碳化硅产业链分为衬底、外延、器件和应用四部分,目前碳化硅衬底在整个环节中占据了将近一半的成本。碳化硅衬底成本高的主要原因有长晶条件控制要求高,长晶速度慢,晶型良率低,加工难度大,加工成品率低。目前,碳化硅的长晶成品率已经逐渐提高到80%以上,而加工的综合成品率仍在80%附近停滞不前。加工存在的问题有:抛光时间长,效率低;抛光过程中易出现划伤和粗糙度不稳定,良率低;抛光液循环使用寿命短,使用成本高。影响碳化硅抛光效率和质量的关键因素有抛光设备、抛光工艺、抛光垫和抛光液等,其中抛光液作为关键耗材,有着决定性的作用,然而现有碳化硅化学机械抛光液的稳定性尚未有很好的解决。

2、目前,在碳化硅的化学机械抛光(cm本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种抛光组合物,其特征在于,包括研磨颗粒、氧化剂、有机分散剂、无机分散剂、pH缓冲剂、pH调节剂和水;其中,所述氧化剂包括高锰酸盐,所述有机分散剂在所述研磨颗粒的表面形成有机包覆层,所述无机分散剂在所述有机包覆层的表面形成无机包覆层。

2.如权利要求1所述的抛光组合物,其特征在于,所述研磨颗粒包括α相氧化铝颗粒;

3.如权利要求1或2所述的抛光组合物,其特征在于,所述研磨颗粒还包括二氧化硅颗粒、氧化铈颗粒、二氧化钛颗粒、氧化锆颗粒、氧化铁颗粒、γ-氧化铝、δ-氧化铝、θ-氧化铝、η-氧化铝、α化率低于90%的氧化铝颗粒中的至少一种;

4.如权利要求...

【技术特征摘要】

1.一种抛光组合物,其特征在于,包括研磨颗粒、氧化剂、有机分散剂、无机分散剂、ph缓冲剂、ph调节剂和水;其中,所述氧化剂包括高锰酸盐,所述有机分散剂在所述研磨颗粒的表面形成有机包覆层,所述无机分散剂在所述有机包覆层的表面形成无机包覆层。

2.如权利要求1所述的抛光组合物,其特征在于,所述研磨颗粒包括α相氧化铝颗粒;

3.如权利要求1或2所述的抛光组合物,其特征在于,所述研磨颗粒还包括二氧化硅颗粒、氧化铈颗粒、二氧化钛颗粒、氧化锆颗粒、氧化铁颗粒、γ-氧化铝、δ-氧化铝、θ-氧化铝、η-氧化铝、α化率低于90%的氧化铝颗粒中的至少一种;

4.如权利要求3所述的抛光组合物,其特征在于,所述丙烯酸类单体包括丙烯酸、甲基丙烯酸、2-乙基丙烯酸、2-丙基丙烯酸、衣康酸、丙烯酸酐、甲基丙烯酸酐中的至少一种;

5.如权利要求1、2或4任一项所述的抛光组合物,其特征在于,所述抛光组合物中,所述无机分散剂至少包括如下(1)~(3)中的一项特征:

6.如权利要求5所述的抛光组合物,其特征在于,所述ph调节剂包括氢氧化锂、氢氧化钠、氢氧化钾、氢氧化铷、正磷酸盐、磷酸氢盐、磷酸二氢盐、焦磷酸盐、三聚磷酸盐、四聚磷酸盐、四偏磷酸...

【专利技术属性】
技术研发人员:莫志源龙相成郭晓军张益良
申请(专利权)人:深圳市鑫鸿达清洗技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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