【技术实现步骤摘要】
本申请涉及一种xrd原位测试辅助装置及应用,属于xrd检测仪器领域。
技术介绍
1、x射线衍射仪(xrd检测设备)通常被用于非原位检测各类粉末材料的结构和组成,被测试样品通常被要求经过烘干处理以去除表面的溶剂分子(水分子或有机溶剂分子)。其原因是被测试材料表面如果被非晶态液膜(尤其是薄层液态水)覆盖会严重降低测试灵敏度。
2、以水系电池原位测试过程为例,在电池充放电过程中如果需要对其进行原位xrd测试,则x射线会被被测样品表面的水系电解液大量吸收,,导致电解液膜下活性物质物相结构分析难以获得准确结果。当x射线的波长范围处在2.34nm与4.4nm之间时(2.34nm对应氧原子的k吸收带,4.4nm对应碳原子的k吸收带),x射线不会被水分子吸收,即水对x射线是透明的,这一x射线波长范围称为“水窗”。但是x射线衍射仪常用靶材铜靶所产生的kαx射线波长为0.154056nm,远小于2.34nm,这个波长的x射线会被非晶态(液态)水分子中的氧原子吸收,常用的其他种类靶材也无法产生波长在“水窗”范围内的x射线。这严重阻碍了水系电池的原
...【技术保护点】
1.一种XRD原位测试辅助装置,其特征在于,
2.根据权利要求1所述的XRD原位测试辅助装置,其特征在于,
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...【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:席耀宁,李先锋,阎景旺,
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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