辐射检查系统技术方案

技术编号:44612276 阅读:18 留言:0更新日期:2025-03-14 13:03
本申请提供一种辐射检查系统,其包括扫描装置,扫描装置包括辐射装置和探测装置,辐射装置和探测装置相互配合,对被检对象进行扫描,辐射装置位于被检对象的一侧,并包括至少两个辐射源,辐射装置的至少两个辐射源沿第一方向排布,并均包括沿第二方向间隔布置的至少两个子光源,第一方向和第二方向相互垂直,并与辐射装置与被检对象的相对布置方向相交,在辐射装置的至少两个辐射源中,在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二方向上部分重叠。这样,可提高辐射检查系统的检查结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及辐射检查,特别涉及一种辐射检查系统


技术介绍

1、辐射检查系统在医疗、安全检查和海关查私等领域应用广泛,其通常包括辐射装置和探测装置,辐射装置发出的射线照射被检对象后,被探测装置接收,以生成图像,实现对被检对象的检查。

2、实践中发现,辐射检查系统的检查结果的准确性有待提升。


技术实现思路

1、本申请所要解决的一个技术问题为,提高辐射检查系统的检查结果的准确性。

2、为了解决上述技术问题,本申请提供一种辐射检查系统,其包括:

3、扫描装置,包括辐射装置和探测装置,辐射装置和探测装置相互配合,对被检对象进行扫描,辐射装置位于被检对象的一侧,并包括至少两个辐射源,辐射装置的至少两个辐射源沿第一方向排布,并均包括沿第二方向间隔布置的至少两个子光源,第一方向和第二方向相互垂直,并与辐射装置与被检对象的相对布置方向相交,在辐射装置的至少两个辐射源中,在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二方向上部分重叠。

4、一些实施例中,在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,在所述第一方向(X)上任意相邻的两个辐射源(11)在所述第二方向(Y)上重叠的部分形成重叠区域(13),所述重叠区域(13)中设有所述子光源(12)。

3.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,所述重叠区域(13)中设有在所述第一方向(X)上共线的一对子光源(12)。

4.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述重叠区域(13)中在所述第一方向(X)上共线的子光源(12)不同时出束。

5.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,在所述第一方向(x)上任意相邻的两个辐射源(11)在所述第二方向(y)上重叠的部分形成重叠区域(13),所述重叠区域(13)中设有所述子光源(12)。

3.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,所述重叠区域(13)中设有在所述第一方向(x)上共线的一对子光源(12)。

4.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,所述重叠区域(13)中在所述第一方向(x)上共线的子光源(12)不同时出束。

5.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述辐射装置(1)的各子光源(12)均不同时出束。

6.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述扫描装置(10)被构造为以下至少之一:

7.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述辐射装置(1)位于所述被检对象(5)的上下方向(h)的一侧,所述第一方向(x)沿着前后方向(l)或相...

【专利技术属性】
技术研发人员:季峥刘磊迟豪杰刘必成宗春光
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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