使用表观遗传学手段检测细胞中的氧化应激制造技术

本发明专利技术涉及鉴定测试细胞中的氧化应激(OS)的方法，其包括(a)确定从测试细胞中获得的DNA样品中的至少一个CpG位点的甲基化状态，(b)将来自(a)的CpG位点的甲基化状态与没有OS的对照的甲基化状态进行比较，其中与对照中的CpG位点相比，所述测试细胞中的CpG位点的甲基化状态的差异指示测试细胞具有OS。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

专利
本专利技术涉及使用表观遗传标记物用于检测细胞中的氧化应激(os)的方法。具体地，该方法能够通过确定测试细胞中的cpg位点的甲基化状态，并且将所得的甲基化状态与没有os的对照细胞的参考甲基化状态进行比较，来鉴定细胞中的os。测试细胞中的cpg位点的差异甲基化指示测试细胞具有os。

技术介绍

0、专利技术背景

1、活生物不断受到来自外界环境的各种应激。为了抵抗这些应激，它们通过各种调节系统维持其稳态。氧化应激指细胞中的活性氧(ros)水平与其抗氧化防御机制之间的严重失衡。为了在这种应激下存活，活生物具有称为氧化还原调节的系统来应对应激，以通过调节氧化还原状况来维持其稳态。该系统发挥功能以适应许多外部应激因素例如辐射、紫外(uv)射线、环境污染物、高烧、低温、缺氧状况和传染病，以及来自生活方式相关疾病(例如癌症、糖尿病、动脉硬化、高血压和肥胖)的氧化应激。然而，如果这种调节机制由于某种原因或其它原因被破坏，则发生氧化应激(os)。os可以导致细胞损伤、dna片段化、细胞凋亡和细胞死亡。os的早期检测可以预防活生物中的进一步损伤，促使生物接本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种鉴定测试细胞中的氧化应激(OS)的方法，其包括

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述甲基化状态的差异是测试细胞中的CpG位点的低甲基化或高甲基化，并且所述CpG位点的低甲基化或高甲基化指示测试细胞中的OS。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述CpG位点选自下表中的CpG位点列表：

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤(a)中确定至少2个CpG位点的甲基化状态。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤(a)中确定至少3个CpG位点的甲基化状态。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种鉴定测试细胞中的氧化应激(os)的方法，其包括

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述甲基化状态的差异是测试细胞中的cpg位点的低甲基化或高甲基化，并且所述cpg位点的低甲基化或高甲基化指示测试细胞中的os。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述cpg位点选自下表中的cpg位点列表：

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤(a)中确定至少2个cpg位点的甲基化状态。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤(a)中确定至少3个cpg位点的甲基化状态。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在步骤(a)中确定至少5个cpg位点的甲基化状态。

7.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：F·博尔，S·罗伊，J·布兰德，S·纳加拉詹，
申请(专利权)人：赢创运营有限公司，
类型：发明
国别省市：