一种电容膜测厚装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种电容膜测厚装置，涉及测厚仪技术领域，包括测试台，测试台的顶面开设有测试槽，测试槽的侧壁安装有位移辊，位移辊能够沿着测试槽的长度方向在测试槽的侧壁上滚动，位移辊与测试槽的底面平行布置。本发明专利技术提出了一种电容膜测厚装置，通过设置的测试台、位移辊、伸缩杆、抵压块、电容式位移传感器、位移放大机构和恒力驱动机构，在对电容膜的厚度进行测量时，能够确保抵压块对电容膜的作用力始终保持一致，减少因对电容膜的作用力不同而造成电容膜形变量不同出现的测量误差，保证测量结果的一致性，另外还可以伸缩杆的位移量放大后进行测量，从而提高检测结果的精准度，减少因伸缩杆的位移量过小而造成测量结果误差较大。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测厚仪，尤其涉及一种电容膜测厚装置。

技术介绍

1、电容膜是一种具有特定电学性能的薄膜材料，电容膜的厚度非常小，而且你柔韧性好，能够适应不同的应用场景和形状需求，电容膜的厚度通常在几微米到几十微米之间，具体的厚度会因不同的应用需求、材质以及电容器的类型而有所差异，因此在电容膜制备时需要对电容膜的厚度进行测量。

2、在实际情况中，大部分电容膜的厚度测量采用机械式测厚仪进行测量，在测量时，通过手动按压测量杆，使得测量杆的测量端抵靠在电容膜上，再通过齿轮传动驱动指针转动，通过指针的指示观测电容膜的厚度，但是在实际情况中，对电容膜的厚度测量只是单位置的测量，在测量电容膜各处的厚度时，需要多次测量操作，操作繁琐，然而在测量过程中，工作人员无法控制每次的按压力，在测量过程中会导致电容膜被挤压的程度不同，测量重复性和一致性相对较差。

技术实现思路

1、基于
技术介绍
中存在的技术问题，本专利技术提出了一种电容膜测厚装置。

2、本专利技术提出的一种电容膜测厚装置，包括测试台，所述测试台的顶面本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电容膜测厚装置，其特征在于，包括测试台(1)，所述测试台(1)的顶面开设有测试槽，所述测试槽的侧壁安装有位移辊(2)，所述位移辊(2)能够沿着测试槽的长度方向在测试槽的侧壁上滚动，所述位移辊(2)与测试槽的底面平行布置，所述位移辊(2)的外周周向开设有多个伸缩孔，所述伸缩孔内滑动安装有伸缩杆(3)，所述伸缩杆(3)的端部固定安装有抵压块(4)，所述伸缩孔内安装有位移放大机构，所述位移辊(2)内安装有电容式位移传感器(5)，所述位移放大机构用于将伸缩杆(3)在伸缩孔内的位移量放大并传递至电容式位移传感器(5)的测量端；

2.根据权利要求1所述的一种电容膜测厚装置，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种电容膜测厚装置，其特征在于，包括测试台(1)，所述测试台(1)的顶面开设有测试槽，所述测试槽的侧壁安装有位移辊(2)，所述位移辊(2)能够沿着测试槽的长度方向在测试槽的侧壁上滚动，所述位移辊(2)与测试槽的底面平行布置，所述位移辊(2)的外周周向开设有多个伸缩孔，所述伸缩孔内滑动安装有伸缩杆(3)，所述伸缩杆(3)的端部固定安装有抵压块(4)，所述伸缩孔内安装有位移放大机构，所述位移辊(2)内安装有电容式位移传感器(5)，所述位移放大机构用于将伸缩杆(3)在伸缩孔内的位移量放大并传递至电容式位移传感器(5)的测量端；

2.根据权利要求1所述的一种电容膜测厚装置，其特征在于，所述位移放大机构包括定滑轮(6)、支架(7)、动滑轮(8)、牵引绳(9)与复位组件；所述位移辊(2)内开设有放大工作腔(10)，所述定滑轮(6)的数量为多个，多个所述定滑轮(6)均转动安装在放大工作腔(10)内，所述支架(7)固定安装在伸缩杆(3)上，且支架(7)位于放大工作腔(10)内，所述动滑轮(8)的数量也为多个，多个所述动滑轮(8)均转动安装在支架(7)上，所述牵引绳(9)的一端固定连接在放大工作腔(10)的内壁，所述牵引绳(9)依次绕过多个定滑轮(6)与多个动滑轮(8)，所述牵引绳(9)的另一端与电容式位移传感器(5)的测量端固定连接；

3.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈刚，胡波，黎传春，嵇建德，
申请(专利权)人：江苏双凯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：