【技术实现步骤摘要】
本技术属硅片检测,具体涉及一种p型硅片生产检测装置。
技术介绍
1、硅片类型p型或n型取决于它的掺杂元素，纯净的硅是半导体，它本身的导电性不强，但是通过添加少量的掺杂元素，可以显著提高其导电性。因此，硅片在生产完成后，需要对其进行检测，保证其质量符合标准。在对硅片进行检测时，可使用到激光检测器，但是现有检测装置上的激光检测器的位置为固定式安装的，由于硅片面积大小有所不一，导致激光检测器不能检测到硅片不同位置，不能实现对单晶硅片全方位检测，检测结果不够全面，为此，我们提出一种p型硅片生产检测装置。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本技术采用的技术方案是：
2、一种p型硅片生产检测装置，包括检测台和激光检测器，所述检测台上设置有传送带，所述检测台两侧设置有门架，两侧所述门架顶端固定连接有顶板，所述顶板上固定设置有显示屏、控制面板和控制器，所述顶板下方固定设置有导轨，所述导轨上设置有滑块，所述滑块与导轨滑动连接，所述滑块与激光检测器固定连接，所述传送带一侧设置有抓取机构，所述抓取机...
【技术保护点】
1.一种P型硅片生产检测装置，包括检测台(1)和激光检测器(2)，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
6.根据权利要求1所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
7.根据权利要求2所述的一种P型硅片生产检测装置，其特征在于：
8.根据权利要求3所述的一...
【技术特征摘要】
1.一种p型硅片生产检测装置，包括检测台(1)和激光检测器(2)，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种p型硅片生产检测装置，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的一种p型硅片生产检测装置，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种p型硅片生产检测装置，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：于越洋，李昊阳，李广德，于如远，
申请(专利权)人：山东民峰智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。