用于检测电磁线绝缘层的缺陷的系统和方法技术方案

技术编号:44587999 阅读:11 留言:0更新日期:2025-03-14 12:47
一种与电线一起使用的瑕疵检测系统,包括外部壳体和位于壳体内的检测组件。检测组件包括围绕电线穿过的检查区域定位的多个发射器和多个检测器。每对相邻发射器间隔开不超过30度,并且多个检测器中的每一个与对应的发射器跨越检查区域定位。每个发射器被配置为发射由对应的检测器测量的信号,并且检测组件被配置为基于由多个检测器中的一个或多个检测器测量的信号的变化来检测电线的表面上的一个或多个缺陷。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开的实施例总体上涉及用于检测电磁线绝缘层的缺陷的系统、设备和方法,更具体地,涉及用于非接触及在线检测具有不同的横截面形状的电磁线绝缘层的缺陷的系统、设备和方法。


技术介绍

1、电磁线,也称为绕组线或磁性绕组线,用于多种的电机和设备中,诸如逆变器驱动电机、电机起动机发电机、变压器等。电磁线通常包括围绕中心导体形成的绝缘层,诸如聚合漆包线绝缘层。漆包线绝缘层是通过在电线上涂刷清漆,然后在烘箱中固化清漆以去除溶剂,从而形成薄的漆包线层。重复这一过程,直到达到所需的漆包线结构或厚度。在形成漆包线或其它绝缘层的过程中,可能会无意中形成不理想的表面裂痕或缺陷,诸如漆包线起泡或突出物。在一些情况下,缺陷会降低电磁线的性能或导致电磁线绝缘层过早失效。

2、在电磁线生产期间,希望检查电磁线绝缘层的表面裂痕或缺陷。已经开发了几种常规的电线检查系统。某些系统利用弹簧加载的导辊并基于导辊的运动来识别缺陷;然而,这些系统需要与电线接触,并且可能导致绝缘层损坏。用导辊系统检测相对小的缺陷也可能非常困难。其它常规系统将激光引导到电线上,并利用互补氧化物半导体(“cmos本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种瑕疵检测系统,包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中包括在所述多个发射器中的每对相邻发射器间隔开不超过17度。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件配置为检测从所述电线的表面延伸20微米的缺陷。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件配置为检测所述电线的表面的任何部分上的缺陷。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述电线包括具有圆拐角的矩形电线。

6.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为确定检测到的缺陷的幅度。

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种瑕疵检测系统,包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中包括在所述多个发射器中的每对相邻发射器间隔开不超过17度。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件配置为检测从所述电线的表面延伸20微米的缺陷。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件配置为检测所述电线的表面的任何部分上的缺陷。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述电线包括具有圆拐角的矩形电线。

6.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为确定检测到的缺陷的幅度。

7.根据权利要求1所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为至少部分地基于所述电线穿过所述检查区域的速度来确定检测到的缺陷的纵向长度。

8.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个发射器包括十二个发射器,所述多个检测器包括十二个检测器。

9.根据权利要求1所述的系统,其中包括在所述多个发射器中的每对相邻发射器在围绕所述检查区域的圆中间隔开15度。

10.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个发射器中的至少一个包括发光二极管。

11.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个检测器中的至少一个包括光电检测器。

12.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个发射器被分组为多个子集,并且所述多个子集中的每一个被定位在沿着所述检测组件的纵向长度的相应间隔的位置处。

13.根据权利要求12所述的系统,其中所述多个子集中的每一个包括三个发射器。

14.根据权利要求1所述的系统,进一步包括配置为在所述检查区域内维持所述电线的位置的至少一个电线引导件。

15.根据权利要求14所述的系统,其中所述至少一个电线引导件包括至少一个竖直导辊和至少一个水平导辊。

16.根据权利要求14所述的系统,其中所述至少一个电线引导件包括导辊,所述导辊包括具有固定位置的第一导辊,和弹簧加载使得其位置能够基于所述电线的尺寸来调节的第二导辊。

17.根据权利要求1所述的系统,进一步包括空气管道,通风系统可以通过所述空气管道迫使加压空气进入所述系统。

18.根据权利要求1所述的系统,其中所述系统的总体积小于一立方英尺。

19.根据权利要求1所述的系统,进一步包括保护套管,所述保护套管选择性地插入到所述检查区域中,以便于将所述电线定位在所述检查区域内。

20.根据权利要求19所述的系统,其中所述保护套管包括:

21.根据权利要求1所述的系统,其中所述电线不与所述检测组件接触。

22.一种瑕疵检测系统,包括:

23.根据权利要求22所述的系统,其中每组相邻发射器沿着围绕所述检查区域形成的环彼此间隔开不超过30度。

24.根据权利要求22所述的系统,其中每组相邻发射器沿着围绕所述检查区域形成的环彼此间隔开不超过17度。

25.根据权利要求22所述的系统,其中所述检测组件配置为检测从所述电线的表面延伸20微米的缺陷。

26.根据权利要求22所述的系统,其中所述检测组件配置为检测所述电线的表面的任何部分上的缺陷。

27.根据权利要求22所述的系统,其中所述电线包括具有圆拐角的矩形电线。

28.根据权利要求22所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为确定检测到的缺陷的幅度。

29.根据权利要求22所述的系统,其中所述检测组件进一步配置为至少部分地基于所述电线穿过所述检查区域的速度来确定检测到的缺陷的纵向长度。

30.根据权利要求22所述的系统,其中所述系统包括围绕所述检查区域定位的至少十二个发射器和检测器对。

31.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:穆罕默德·易伯拉欣·阿里拉塞尔·格伦·珀斯特马修·E·利奇克里斯蒂安·里斯·格罗夫
申请(专利权)人:美国埃赛克斯解决方案有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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