【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种穿孔单元(GP)，包括：至少一个刀片(10A-10F)和反刀片(20)，所述至少一个刀片(10A-10F)和所述反刀片(20)被配置成用于在沿预定义路径移动的网状材料(N)上形成穿孔线(P)，其中所述穿孔线各自由预定数目的穿孔(F)形成，所述穿孔(F)彼此间隔开预定值并沿预定穿孔方向(CD)对齐，其特征在于，所述穿孔单元(GP)包括光学单元(3)，所述光学单元(3)适于在所述网状材料(N)沿所述路径移动时在沿所述路径布置在所述穿孔单元(GP)下游的控制区(ZC)中在光学上检测每个穿孔线(P)的各穿孔(F)，所述光学单元(3)被配置成用于采集与所述穿孔线(P)相对应的所述网状材料(N)的图像，所述光学单元(3)连接到可编程处理单元(4)，所述可编程处理单元(4)接收由所述光学单元(3)产生的电信号，并且根据所编程的处理准则来处理所述电信号，所编程的处理准则包括所述穿孔线(P)的所述穿孔(F)的所述预定数目与由所述光学单元(3)在每个穿孔线上检测到的穿孔数目之间的比较，并且，取决于如此进行的比较，所述处理单元(4)易于发射指示与所述穿孔单元(GP)的操作有关的异常状况的差错信
2.如权利要求1所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)被编程成用于：如果由所述光学单元(3)在所述控制区(ZC)中的一条或多条穿孔线(P)上检测到的所述穿孔(F)的总数小于所述穿孔的所述预定数目的预定百分比，则发射所述差错信号。
3.如权利要求1所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)被编程成用于：如果所述光学单元(3)在所述控制区(ZC)中的一条或多条穿孔线(P)上检测到的连贯穿孔(F)的数目小于预定值，则发射所述差错信号。
4.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：所述控制区(ZC)被分成多个控制子区(Cl、C2、C3)，所述多个控制子区(Cl、C2、C3)相对于所述控制区中的所述网状材料(N)移动方向(MD)横向对齐，并且所述光学单元(3)借助于相应处置单元(CM、AC)在所述控制子区(Cl、C2、C3)之间循环地移动。
5.如权利要求4所述的穿孔单元，其特征在于：所述控制子区包括两个横向控制子区(Cl、C2)，并且其中所述处置单元(CM、AC)首先将所述光学单元(3)定位在与所述横向控制子区(Cl、C2)相对应的位置，并且随后定位在与被包括在所述横向控制子区(Cl、C2)之间的任何其他控制子区相对应的位置。
6.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)控制所述光学单元(3)的激活。
7.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：所述路径包括凸表面，所述凸表面布置有所述控制区(ZC)。
8.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：所述至少一个刀片(1A-10F)和所述反刀片(20)安装在相应支撑件上，所述支撑件的相互位置是可调节的，其特征在于，所述差错信号控制所述支撑件的相互定位。
9.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：由所述处理单元(4)激活的照明器(30)与所述光学单元(3)相关联。
10.根据前述权利要求中的一项或多项所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)被编程成用于：如果由所述光学单元(3)检测到的异常状况出现预设次数，则发射所述差错信号。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种穿孔单元(gp)，包括：至少一个刀片(10a-10f)和反刀片(20)，所述至少一个刀片(10a-10f)和所述反刀片(20)被配置成用于在沿预定义路径移动的网状材料(n)上形成穿孔线(p)，其中所述穿孔线各自由预定数目的穿孔(f)形成，所述穿孔(f)彼此间隔开预定值并沿预定穿孔方向(cd)对齐，其特征在于，所述穿孔单元(gp)包括光学单元(3)，所述光学单元(3)适于在所述网状材料(n)沿所述路径移动时在沿所述路径布置在所述穿孔单元(gp)下游的控制区(zc)中在光学上检测每个穿孔线(p)的各穿孔(f)，所述光学单元(3)被配置成用于采集与所述穿孔线(p)相对应的所述网状材料(n)的图像，所述光学单元(3)连接到可编程处理单元(4)，所述可编程处理单元(4)接收由所述光学单元(3)产生的电信号，并且根据所编程的处理准则来处理所述电信号，所编程的处理准则包括所述穿孔线(p)的所述穿孔(f)的所述预定数目与由所述光学单元(3)在每个穿孔线上检测到的穿孔数目之间的比较，并且，取决于如此进行的比较，所述处理单元(4)易于发射指示与所述穿孔单元(gp)的操作有关的异常状况的差错信号。
2.如权利要求1所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)被编程成用于：如果由所述光学单元(3)在所述控制区(zc)中的一条或多条穿孔线(p)上检测到的所述穿孔(f)的总数小于所述穿孔的所述预定数目的预定百分比，则发射所述差错信号。
3.如权利要求1所述的穿孔单元，其特征在于：所述处理单元(4)被编程成用于：如果所述光学单元(3)在所述控制区(zc)中的一条或多条穿孔线(p)上检测到的连贯穿孔(f)的数目小于预定值，则发射所述差错信...
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