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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开的示例性实施方式涉及基板处理方法和基板处理装置。
技术介绍
1、在专利文献1中,公开了在半导体基板上使用euv光形成可图案化的薄膜的技术。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1:日本特表2021-523403号公报
技术实现思路
1、本公开提供了一种调节显影图案形状的技术。
2、在本公开的一个示例性实施方式中,提供了一种基板处理方法,包括:(a)提供具有底膜和所述底膜上的抗蚀剂膜的基板的工序,所述抗蚀剂膜具有第一区域和第二区域;(b)除去所述第二区域的至少一部分,使所述第一区域的侧面的至少一部分露出的工序;(c)在所述第一区域的至少上面形成沉积膜的工序;和(d)除去所述沉积膜的至少一部分和所述第二区域的至少一部分的工序。
3、专利技术效果
4、根据本公开的一个示例性实施方式,能够提供一种用于调节显影图案形状的技术。
【技术保护点】
1.一种基板处理方法,包括:
2.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
3.根据权利要求2所述的基板处理方法,其中,
4.根据权利要求3所述的基板处理方法,其中,
5.根据权利要求4所述的基板处理方法,其中,
6.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
7.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,
9.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,
10.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
11.根据权利要求10所述的基板处理方法,其中,
12.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
13.根据权利要求12所述的基板处理方法,其中,
14.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,
15.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,
16.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
17.根据权利要求16所述的基板处理方法,其中,
19.根据权利要求16所述的基板处理方法,其中,
20.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
21.根据权利要求1至20中任一项所述的基板处理方法,其中,
22.根据权利要求21所述的基板处理方法,其中,
23.根据权利要求21所述的基板处理方法,其中,
24.一种基板处理装置,具备腔室、配置在所述腔室内的基板支撑部和控制部,
25.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,
26.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,
27.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种基板处理方法,包括:
2.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
3.根据权利要求2所述的基板处理方法,其中,
4.根据权利要求3所述的基板处理方法,其中,
5.根据权利要求4所述的基板处理方法,其中,
6.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
7.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,
9.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,
10.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
11.根据权利要求10所述的基板处理方法,其中,
12.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,
13.根据权利要求12所述的基板处理方法,其中,
14.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,
15....
【专利技术属性】
技术研发人员:熊仓翔,小野健太,中根由太,西塚哲也,本田昌伸,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:
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