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基板处理方法和基板处理装置制造方法及图纸

技术编号:44575132 阅读:12 留言:0更新日期:2025-03-11 14:36
提供了一种调节显影图案形状的技术。本公开中的基板处理方法包括:(a)提供具有底膜和所述底膜上的抗蚀剂膜的基板的工序,所述抗蚀剂膜具有第一区域和第二区域;(b)除去所述第二区域的至少一部分,使所述第一区域的侧面的至少一部分露出的工序;(c)在所述第一区域的至少上面形成沉积膜的工序;和(d)除去所述沉积膜的至少一部分和所述第二区域的至少一个的工序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开的示例性实施方式涉及基板处理方法和基板处理装置


技术介绍

1、在专利文献1中,公开了在半导体基板上使用euv光形成可图案化的薄膜的技术。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特表2021-523403号公报


技术实现思路

1、本公开提供了一种调节显影图案形状的技术。

2、在本公开的一个示例性实施方式中,提供了一种基板处理方法,包括:(a)提供具有底膜和所述底膜上的抗蚀剂膜的基板的工序,所述抗蚀剂膜具有第一区域和第二区域;(b)除去所述第二区域的至少一部分,使所述第一区域的侧面的至少一部分露出的工序;(c)在所述第一区域的至少上面形成沉积膜的工序;和(d)除去所述沉积膜的至少一部分和所述第二区域的至少一部分的工序。

3、专利技术效果

4、根据本公开的一个示例性实施方式,能够提供一种用于调节显影图案形状的技术。

【技术保护点】

1.一种基板处理方法,包括:

2.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

3.根据权利要求2所述的基板处理方法,其中,

4.根据权利要求3所述的基板处理方法,其中,

5.根据权利要求4所述的基板处理方法,其中,

6.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

7.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,

9.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,

10.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

11.根据权利要求10所述的基板处理方法,其中,

12.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

13.根据权利要求12所述的基板处理方法,其中,

14.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,

15.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,

16.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

17.根据权利要求16所述的基板处理方法,其中,

>18.根据权利要求16所述的基板处理方法,其中,

19.根据权利要求16所述的基板处理方法,其中,

20.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

21.根据权利要求1至20中任一项所述的基板处理方法,其中,

22.根据权利要求21所述的基板处理方法,其中,

23.根据权利要求21所述的基板处理方法,其中,

24.一种基板处理装置,具备腔室、配置在所述腔室内的基板支撑部和控制部,

25.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,

26.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,

27.根据权利要求24所述的基板处理装置,其中,

...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种基板处理方法,包括:

2.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

3.根据权利要求2所述的基板处理方法,其中,

4.根据权利要求3所述的基板处理方法,其中,

5.根据权利要求4所述的基板处理方法,其中,

6.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

7.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,

9.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,

10.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

11.根据权利要求10所述的基板处理方法,其中,

12.根据权利要求1所述的基板处理方法,其中,

13.根据权利要求12所述的基板处理方法,其中,

14.根据权利要求13所述的基板处理方法,其中,

15....

【专利技术属性】
技术研发人员:熊仓翔小野健太中根由太西塚哲也本田昌伸
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社
类型:发明
国别省市:

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