【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及装置信号测试，尤其涉及一种信号测试电路、测试芯片及测试装置。
技术介绍
1、在现行的芯片电压测试方案中，通常需要对各个电压逐一进行测试，并且每次测试时都必须单独调整测试芯片的输出参考电压，这一过程显得颇为繁琐。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种信号测试电路及信号检测装置，旨在提高测试效率。
2、为实现上述目的，本专利技术提出一种信号测试电路，所述信号测试电路与待测装置连接，所述信号测试电路包括：
3、多个信号反馈端，用于接入待测装置，以接入待测装置输出的数据信号；
4、多个比较器，其中一个所述比较器的正相输入端用于接入一信号反馈端，反相输入端用于接入一参考信号；其余所述比较器的正相输入端分别接入一参考信号，反相输入端分别接入一信号反馈端；
5、多个时间数字转换器，每一所述时间数字转换器的输入端与一所述比较器的输出端连接，每一所述时间数字转换器用于将根据对应的所述比较器输出的脉冲信号转换为数字信号。
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【技术保护点】
1.一种信号测试电路，其特征在于，所述信号测试电路与待测装置连接，所述信号测试电路包括：
2.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个所述信号反馈端用于接入同一待测装置输出的数据信号；
3.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个信号反馈端中，每一所述信号反馈端用于接入不同的待测装置输出的数据信号，或者每一所述信号反馈端用于接入同一待测装置输出的不同数据信号；
4.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个所述比较器分为至少两组比较器组，每组所述比较器组包括至少两个比较器，两个所述比较器接入同一待测装置输出的数
【技术特征摘要】
1.一种信号测试电路，其特征在于，所述信号测试电路与待测装置连接，所述信号测试电路包括：
2.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个所述信号反馈端用于接入同一待测装置输出的数据信号；
3.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个信号反馈端中，每一所述信号反馈端用于接入不同的待测装置输出的数据信号，或者每一所述信号反馈端用于接入同一待测装置输出的不同数据信号；
4.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，多个所述比较器分为至少两组比较器组，每组所述比较器组包括至少两个比较器，两个所述比较器接入同一待测装置输出的数据信号；
5.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，所述信号测试电路还包括：
6.如权利要求5所述的信号测试电路，其特征在于，所述信号测试电路...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊生，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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