【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路领域,尤其涉及一种基于磁性随机存取存储器的抗辐照关键电路设计方法。
技术介绍
1、随着电子技术的不断进步,集成电路被广泛应用于各种领域,包括高压、高温、有毒或腐蚀性气体等恶劣环境以及强辐射的特殊场景。在大多数恶劣条件下,合适的封装技术能够保障电子产品的正常运行。然而,面对辐射环境,集成电路易受到高能光子和粒子的影响,发生电离和碰撞现象,从而对封装的半导体器件造成不可逆的损伤。在这种情况下,封装和屏蔽往往是无效的,甚至可能由于封装材料中引发的二次反应,进一步加剧辐射损伤。因此,抗辐照技术已经成为集成电路可靠性研究的重点方向。随着航天和核工业的快速发展,特别是卫星产业的高速增长,对存储器的抗辐照设计提出了更高的要求。尽管抗辐射逻辑设计已经相对成熟,但针对存储器的抗辐射设计,尤其是围绕外围关键电路的优化,仍然是当前技术中的薄弱环节。存储器在抗辐照电子产品开发中面临多重挑战:一方面,传统的三模冗余加固方案虽然可以提升抗辐射能力,但其面积和功耗代价过高,难以满足先进工艺节点下对高效设计的需求;另一方面,高能粒子作用于集成电路
...【技术保护点】
1.一种基于磁性随机存取存储器的抗辐照关键电路设计方法,其特征在于,对于包括写驱动电路、字线译码及驱动电路和列选电路在内的外围电路,针对其中的基本组合逻辑单元,提出双模冗余的标准组合逻辑单元抗辐照加固RH方法;对基本组合逻辑单元电路加固后,得到经过标准化设计的标准组合逻辑单元,围绕15个标准组合逻辑单元电路建立了抗辐照标准单元库,在外围电路设计中使用抗辐照标准单元库中的标准组合逻辑单元;
2.根据权利要求1所述的一种基于磁性随机存取存储器的抗辐照关键电路设计方法,其特征在于,在写驱动电路中,包括组合逻辑门电路和电平转换器,其中的组合逻辑单元全部采用抗辐照标
...【技术特征摘要】
1.一种基于磁性随机存取存储器的抗辐照关键电路设计方法,其特征在于,对于包括写驱动电路、字线译码及驱动电路和列选电路在内的外围电路,针对其中的基本组合逻辑单元,提出双模冗余的标准组合逻辑单元抗辐照加固rh方法;对基本组合逻辑单元电路加固后,得到经过标准化设计的标准组合逻辑单元,围绕15个标准组合逻辑单元电路建立了抗辐照标准单元库,在外围电路设计中使用抗辐照标准单元库中的标准组合逻辑单元;
2.根据权利要求1所述的一种基于磁性随机存取存储器的抗辐照关键电路设计方法,其特征在于,在写驱动电路中,包括组合逻辑门电路和电平转换器,其中的组合逻辑单元全部采用抗辐照标准单元库;输入信号din及其通过rh反相器得到的反相信号分别经rh或非门送入电平转换器,再连接到写列选电路的wbl和wsl;两个rh或非门的另一输入均为经过rh反相器的wten信号;wten信号为控制信号,通过wten产生不...
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