一种异常分块确定方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种异常分块确定方法、装置、设备及可读存储介质，应用于计算机领域，包括：根据异常条带上的数据计算得到异常条带上各粒度的第一校验信息；粒度小于等于块粒度；从校验区获取异常条带上各粒度的第二校验信息；第二校验信息为写数据时根据写入信息计算得到的信息；根据第一校验信息和第二校验信息确定异常分块。本发明专利技术在写数据时根据写入信息计算得到校验信息并记录在校验区。在条带异常时，基于异常条带上的数据计算的各粒度校验信息，并结合写数据时记录的各粒度校验信息确定是哪个分块出现了问题。解决了无法确定异常条带哪个分块异常的问题，使得后续能够针对性地实现异常条带精准修复，提高了异常条带修复的准确性和高效性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机领域，特别涉及一种异常分块确定方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

1、raid（redundant array of independent disks，独立磁盘冗余阵列）阵列巡检发现数据不一致后，只能确定哪一个条带出现了不一致，并无法判断不一致条带上是哪一个分块出现问题。因此，现有技术只能发现条带异常，并不能确定是该条带上的哪一个分块异常。

2、因此，如何确定异常条带上的异常分块是当前亟需解决的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种异常分块确定方法、装置、设备及可读存储介质，解决了现有技术中无法确定异常条带上的异常分块问题。

2、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种异常分块确定方法，包括：

3、根据异常条带上的数据计算得到所述异常条带上各粒度的第一校验信息；所述粒度小于等于块粒度；

4、从校验区获取所述异常条带上各粒度的第二校验信息；所述第二校验信息为写数据时根据写入信息计算得到的信息；

5本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种异常分块确定方法，其特征在于，包括：

2.根据要求1所述的异常分块确定方法，其特征在于，所述粒度的设定过程，包括：

3.根据权利要求1所述的异常分块确定方法，其特征在于，根据所述第一校验信息和所述第二校验信息确定异常分块，包括：

4.根据权利要求3所述的异常分块确定方法，其特征在于，所述第二校验信息的校验码计算过程，包括：

5.根据权利要求3所述的异常分块确定方法，其特征在于，在比较所述第一校验信息和所述第二校验信息的校验码之后，还包括：

6.根据权利要求5所述的异常分块确定方法，其特征在于，根据所述总次数、所述第一位图...

【技术特征摘要】

1.一种异常分块确定方法，其特征在于，包括：

2.根据要求1所述的异常分块确定方法，其特征在于，所述粒度的设定过程，包括：

3.根据权利要求1所述的异常分块确定方法，其特征在于，根据所述第一校验信息和所述第二校验信息确定异常分块，包括：

4.根据权利要求3所述的异常分块确定方法，其特征在于，所述第二校验信息的校验码计算过程，包括：

5.根据权利要求3所述的异常分块确定方法，其特征在于，在比较所述第一校验信息和所述第二校验信息的校验码之后，还包括：

6.根据权利要求5所述的异常...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏涛，朱红玉，周国强，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：