电容检测方法、系统、设备及存储介质技术方案

本申请提供了一种电容检测方法、系统、设备及存储介质，涉及电容检测技术领域。该方法包括：获取被测电容的电容类型和参数范围，并根据所述电容类型和所述参数范围与预设的谐振库进行匹配，得到目标谐振电感参数；基于所述目标谐振电感参数、所述电容类型和所述参数范围构建目标LC谐振测试电路，并基于所述目标LC谐振测试电路对所述被测电容进行测量，得到谐振响应数据；对所述谐振响应数据进行分析，得到电容性能指数。通过上述方案提高了电容测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电容检测，具体涉及一种电容检测方法、系统、设备及存储介质。

技术介绍

1、电容是电子电路中的关键元件之一，其性能的优劣直接影响电路的可靠性和稳定性。传统的电容检测方法主要包括直流电阻测试、绝缘电阻测试、容量测试、介质损耗测试等，这些方法虽然能够获取电容的某些特性参数，但存在一定局限性。其中，频率响应分析法(frequency response analysis，fra)是一种相对先进的电容检测方法。该方法通过向电容施加不同频率的激励信号，测量其响应特性，进而分析电容的性能。然而，现有的频率响应分析法在实际应用中仍存在不足之处，主要体现在测试效率较低。

技术实现思路

1、本申请提供一种电容检测方法、系统、设备及存储介质，能够提高电容测试效率。

2、第一方面，本申请提供了一种电容检测方法，方法包括：

3、获取被测电容的电容类型和参数范围，并根据所述电容类型和所述参数范围与预设的谐振库进行匹配，得到目标谐振电感参数；

4、基于所述目标谐振电感参数、所述电容类型和所述参数本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电容检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电容类型和所述参数范围与预设的谐振库进行匹配，得到目标谐振电感参数，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标谐振电感参数、所述电容类型和所述参数范围构建目标LC谐振测试电路，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标LC谐振测试电路对所述被测电容进行测量，得到谐振响应数据，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述电容类型和所述参数范围生成目标激励信号，包括：

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【技术特征摘要】

1.一种电容检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电容类型和所述参数范围与预设的谐振库进行匹配，得到目标谐振电感参数，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标谐振电感参数、所述电容类型和所述参数范围构建目标lc谐振测试电路，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标lc谐振测试电路对所述被测电容进行测量，得到谐振响应数据，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述电容类型和所述参数范围生成目标激励信号，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述谐振响应数据包...

【专利技术属性】
技术研发人员：王迪，
申请(专利权)人：无锡众盛禾半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：