一种红外热波无损检测系统及方法技术方案

技术编号：44551639 阅读：33 留言：0更新日期：2025-03-11 14:15

本发明专利技术公开了一种红外热波无损检测系统，包括检测台面、热激励模块、热成像设备、被测构件、计算机、时间继电器和同步触发器；所述热激励模块、热成像设备和被测构件均分别设于检测台面上；所述被测构件位于检测台面的一侧，热激励模块和热成像设备位于检测台面的另一侧；所述热成像设备正对被测构件；所述热激励模块的激励端对准被测构件；所述计算机通过时间继电器与热激励模块相连。本发明专利技术还公开了一种红外热波无损检测方法。本发明专利技术的有益效果为：通过热激励模块持续激励，能够有效检测到更深处的缺陷；并通过减背景‑主成分分析算法，能够有效消除因被测构件表面不平整而导致的噪声信号，提高缺陷面积定量检测的准确率。

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【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及缺陷检测，具体涉及一种红外热波无损检测系统及方法。

技术介绍

1、红外热波无损检测方法是通过主动对被测构件施加可控热激励源，使物体内部的缺陷或损伤以表面温度差异的形式表现出来；利用热成像设备连续记录物体表面的温度变化，实现对内部缺陷的无损检测。近年来，随着对在役设备的安全性和经济型的需求越来越高，仅检测缺陷的有无、属性已经无法满足工业的需求，无损检测正在向无损评价转变，定量地检测缺陷的位置、大小等信息成为了当前世界各国的研究热点。

2、目前，常规的红外热波无损检测由于热激励不均匀、环境散射等干扰因素的存在，得到的红外图像信息容易被干扰信息给掩盖，影响后续定量检测的精度；且常规的热激励源功能单一，热激励范围有限、能量较为发散，无法适应不同类型构件的检测，检测精度差。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于，针对现有技术的不足，提供一种红外热波无损检测系统及方法，旨在提高检测精度。

2、本专利技术采用的技术方案为：一种红外热波无损检测系统，包括检测台面、热...

【技术保护点】

1.一种红外热波无损检测系统，其特征在于，包括检测台面、热激励模块、热成像设备、被测构件、计算机、时间继电器和同步触发器；

2.如权利要求1所述的红外热波无损检测系统，其特征在于，所述热激励模块包括内灯罩、外灯罩、灯芯、前凸透镜和后凸透镜；

3.如权利要求2所述的红外热波无损检测系统，其特征在于，所述内灯罩的开口端和外灯罩的开口端螺纹连接。

4.如权利要求1~3中任意一项所述的红外热波无损检测系统，其特征在于，所述检测台面上设置多个升降杆，热激励模块、热成像设备和被测构件均分别安装于升降杆的上端；所述计算机与升降杆相连。