探针装置制造方法及图纸

本发明专利技术作为探针装置，公开一种采用在与电子构件的端子接触的探针销的上触点部和与基板的端子接触的探针销的下触点部之间的弹性力不相互影响的构造，从而探针销的上触点部和下触点部能够各自独立工作的探针装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术作为探针装置，更详细地，涉及一种采用在与电子构件的端子接触的探针销的上触点部和与基板的端子接触的探针销的下触点部之间接触力不相互影响的构造，从而探针销的上触点部和下触点部能够各自独立工作的探针装置。

技术介绍

1、在电子构件的制造工艺中，为了检测电子构件的电特性正在利用探针装置。探针装置是将电子构件与使电子构件工作的基板间进行电连接从而测试针对电子构件的电特性的装置。

2、探针装置的探针销一侧与电子构件的端子接触，另一侧与基板的端子接触，但是为了形成稳定的电接触，探针销的一侧加压以使得与电子构件的端子接触并按压一定水准，另外，探针销的另一侧加压以使得与基板的端子接触并按压一定水准。

3、为了提高针对探针装置的探针销的端子接触正在公开各种构造的探针销。

4、作为一例，韩国专利授权公报第2152230号公开针对探针销和应用其的检测单元的技术，图1示出在所述现有技术公开的探针销。

5、在探针销10的一侧设有第一触点11并在另一侧设有第二触点12。探针销10的活动销20由第一弯曲部21、直线部22以及第二弯本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探针装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

7.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

8.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

9.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

10.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种探针装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于，

...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇九，李孟烈，
申请(专利权)人：威波股份有限公司，
类型：发明
国别省市：