【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电学测试，尤其涉及一种电学测试平台、在磁场环境测量样品阻值的方法及观测磁畴运动的方法。
技术介绍
1、在通有电流的金属或半导体上施加磁场时，其电阻值将发生明显变化，这种现象称为磁致电阻效应。另外，铁磁体材料在自发磁化的过程中为降低静磁能而产生分化的方向各异的小型磁化区域即磁畴。在研究磁致电阻效应或者进行其他实验时，现有的电学测试平台对于低电阻和微小电阻的测量往往受限于测试设备的精度和稳定性，特别是在磁场环境下，传统测试方法容易受到电磁干扰，导致测量结果不准确。对于磁畴的观察，现有技术多采用磁光克尔测量系统（moke），该系统为基于光学的磁性测试系统，受材料透明度的制约。而磁力显微镜（mfm）技术难以在样品通有电流的条件下观察样品表面形貌以及磁畴的变化。因此急需一种能在磁场环境测量样品阻值且能观测磁畴运动的电学测试平台。
技术实现思路
1、鉴于此，本专利技术实施例提供了一种电学测试平台、在磁场环境测量样品阻值的方法及观测磁畴运动的方法，以消除或改善现有技术中存在的一个或更多个缺
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【技术保护点】
1.一种电学测试平台，其特征在于，包括：电流源表（1）、电压表（2）、电磁铁（4）、测试底座（6）、原子力显微镜（8）、第一样品托（5）和第二样品托（9）；
2.根据权利要求1所述的电学测试平台，其特征在于，所述转动驱动机构包括第一锥齿轮（502）、连接轴（503）、第一齿轮（504）、第二齿轮（505）、第三齿轮（506）和转盘（509）；
3.根据权利要求2所述的电学测试平台，其特征在于，所述转动驱动机构还包括第四齿轮（511）、第五齿轮（512）和扭簧（513）；
4.根据权利要求2所述的电学测试平台，其特征在于，所述第一样品...
【技术特征摘要】
1.一种电学测试平台，其特征在于，包括：电流源表（1）、电压表（2）、电磁铁（4）、测试底座（6）、原子力显微镜（8）、第一样品托（5）和第二样品托（9）；
2.根据权利要求1所述的电学测试平台，其特征在于，所述转动驱动机构包括第一锥齿轮（502）、连接轴（503）、第一齿轮（504）、第二齿轮（505）、第三齿轮（506）和转盘（509）；
3.根据权利要求2所述的电学测试平台，其特征在于，所述转动驱动机构还包括第四齿轮（511）、第五齿轮（512）和扭簧（513）；
4.根据权利要求2所述的电学测试平台，其特征在于，所述第一样品托（5）还包括电机（515）和第二锥齿轮（516）；
5.根据权利要求1所述的电学测试平台，其特征在于，所述外壳（501）为柱形结构，所述外壳（501）包括一体成型的固定环、两个连接板和底托；
6.根据权利要求5所述的电学测...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟康康，陶思凯，徐晓光，姜勇，
申请(专利权)人：北京科技大学，
类型：发明
国别省市：
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