半导体器件制造技术

技术编号:44435630 阅读:18 留言:0更新日期:2025-02-28 18:46
本发明专利技术涉及一种半导体器件(2)。半导体器件具有电路载体(S),电路载体具有第一导体层(CU1),在第一导体层中构成第一导体电路(F1)。半导体器件具有第一晶闸管芯片(C1),第一晶闸管芯片在其上侧具有阳极触点(A10)和栅极触点(G10)并且在其下侧具有阴极触点(K10),其中,第一晶闸管芯片(C1)以其阴极触点(K10)安置在第一导体电路(CU1、F1)上,使得在阴极触点(K10)和第一导体电路(CU1、F1)之间存在电连接。半导体器件还具有第二晶闸管芯片(C2),第二晶闸管芯片在其上侧具有阴极触点(K2)和栅极触点(G2)并且在其下侧具有阳极触点(A2),其中,第二晶闸管芯片(C2)以其阳极触点(A2)安置在第一导体电路(CU1、F1)上,使得在阳极触点(A2)和第一导体电路(CU1、F1)之间存在电连接。半导体器件还具有至少一个导电连接元件(22、D),导电连接元件将第一晶闸管芯片(C1)的阳极触点(A10)与第二晶闸管芯片(C2)的阴极触点(K2)电连接。第一导体电路(CU1、F1)在第一晶闸管芯片(C1)的阴极触点(K10)和第二晶闸管芯片(C2)的阳极触点(A2)之间建立电连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种半导体器件(2),具有:

2.根据权利要求1所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

3.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

4.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

5.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有第四控制触点(44),所述第四控制触点通过第一导体电路(CU1、F1)与所述第一晶闸管芯片(C1)的阴极触点(K10)电连接。

6.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),其中,所述至少一个导电连接元件(22、...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种半导体器件(2),具有:

2.根据权利要求1所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

3.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

4.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有:

5.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),所述半导体器件具有第四控制触点(44),所述第四控制触点通过第一导体电路(cu1、f1)与所述第一晶闸管芯片(c1)的阴极触点(k10)电连接。

6.根据前述权利要求中任一项所述的半导体器件(2),其中,所述至少一个导电连接元件(22、d)是下...

【专利技术属性】
技术研发人员:W·阿普费尔巴彻S·兰根
申请(专利权)人:西门子股份公司
类型:发明
国别省市:

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