一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法技术

本发明专利技术公开了一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，属于光纤位移传感器的技术领域；S1：建立扫描平台；S2：确定扫描面和扫描面的面积，扫描光路通过音圈电机中的透镜输出激光照射在待扫描物体上，在待扫描的物体上发生漫反射，扫描平台接收待测量物体反射的信息光后，使用音圈电机移动激光到下一位置，对待测量物体的扫描面进行扫描；S3：扫描过程中，借助扫描面反射回来的光功率和扫描平台发射的光功率，计算获取待测量物体的位移信息d。本发明专利技术采用上述方法，将现有的点式光纤位移传感器改进为扫描式的光纤位移传感器，通过面式扫描比单点扫面更加准确，且能衡量到物体在方向上的改变。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤位移传感器的，尤其是涉及一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法。

技术介绍

1、现代传感器中，光纤传感器由于其体积轻便、价格低廉、稳定性好、优良的抗电磁腐蚀性以及将信息传感与传输集为一体的特有优势而从众多传感器中突显出来，它将光作为信号载体，将光纤作为感知器件，从而融合了“传输”和“感知”这两项不同领域的技术，克服了常规检测技术中存在的弊端，因此传感器技术在现代的检测计量领域占有一定的地位。目前常用的方法是通过机械接触来对位移的测量，而光纤传感器由于具有非接触式的实时测量、长距离测量并且能够抗电磁干扰等优势，因此它成为传感器领域内一个热门的方向。而位移的测量作为生产工业中一个非常重要的特征参数，光纤传感的发展为工业发展提供了支撑，为满足实际需求，近几年对微位移测量要求越来越高，在目前的光纤传感器中，存在测量范围增大引起精度降低以及需要对物体进行标定等一系列问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，通过在光纤位移传感器中加入音圈电机，将常规的点测量转化为面本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：所述步骤S1中，扫描电路的组成包括依次连接的调制电源、激光二极管、扫描光路、光电转化、锁相放大、AD转换、FPGA和上位机；

3.根据权利要求2所述的一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：所述步骤S2中，扫描过程具体如下：

4.根据权利要求3所述的一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：所述步骤S3中，计算位移信息的过程如下：

【技术特征摘要】

1.一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，其特征在于：所述步骤s1中，扫描电路的组成包括依次连接的调制电源、激光二极管、扫描光路、光电转化、锁相放大、ad转换、fp...

【专利技术属性】
技术研发人员：田沛佳，刘鹏，张和煦，刘颀，卢曦，朱正，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：发明
国别省市：