缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:44419504 阅读:19 留言:0更新日期:2025-02-28 18:35
本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括:将获取的待检测图像划分为预设数量的待测子区域;在每个待测子区域中确定各个目标像素点及其相邻像素点,并计算每个目标像素点与对应相邻像素点之间的灰度值差异;再基于灰度值差异、目标像素点的灰度值以及融合因子,融合得到每个待测子区域中的各个目标像素点更新后的灰度值,并基于各个目标像素点更新后的灰度值,确定相应待测子区域所对应的灰度处理图像;融合因子用于表征目标像素点的灰度值更新幅度的大小;对待检测图像的各个待检测子区域所对应的灰度处理图像,进行灰度值比对,确定目标缺陷区域。采用本方法能够提高缺陷检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机,特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质


技术介绍

1、随着计算机技术的发展,利用图像识别技术对工业产品的外观缺陷进行自动化检测,例如对生产过程中ag玻璃(抗反射玻璃)外表面缺陷进行检测等,逐渐代替人工检测以提高缺陷检测效率的方法,具有十分重要的应用价值。

2、现有技术中,通常使用二值化等方法进行缺陷判定,受被检测物品自带的正常噪点的影响,缺陷检测的准确性较低。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质,能够有效提高缺陷检测的准确性。

2、第一方面,本申请提供了一种缺陷检测方法,包括:

3、将获取的待检测图像划分为预设数量的待测子区域;

4、在每个待测子区域中确定各个目标像素点及其相邻像素点,并计算每个目标像素点与对应相邻像素点之间的灰度值差异;

5、针对每个待测子区域,基于灰度值差异、目标像素点的灰度值以及融合因子,融合得到每个待测子区域本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将获取的待检测图像划分为预设数量的待测子区域之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述初始图像进行二值化处理,确定所述初始图像中所述检测区域的位置信息,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对每个待测子区域,基于灰度值差异、目标像素点的灰度值以及融合因子,融合得到所述每个待测子区域中的各个目标像素点更新后的灰度值,并基于各个目标像素点更新后的灰度值,确定相应待测子区域所对应的灰度处理图像,包括:

5.根...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将获取的待检测图像划分为预设数量的待测子区域之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述初始图像进行二值化处理,确定所述初始图像中所述检测区域的位置信息,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对每个待测子区域,基于灰度值差异、目标像素点的灰度值以及融合因子,融合得到所述每个待测子区域中的各个目标像素点更新后的灰度值,并基于各个目标像素点更新后的灰度值,确定相应待测子区域所对应的灰度处理图像,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述待检测图像的各个待检测子区域所对应的灰度处理图像,进行灰度值比对,确定目标缺陷区域,包括:

6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:莫宇金韵刘枢吕江波沈小勇
申请(专利权)人:深圳思谋信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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