一种X射线闪烁体热成像薄膜与应用制造技术

本发明专利技术公开了一种X射线闪烁体热成像薄膜与应用，属于荧光实时成像检测领域。本发明专利技术以ZrMgMo<subgt;3</subgt;O<subgt;12</subgt;:Dy荧光粉作为X射线闪烁体，用PDMS液体与荧光粉混合制备X射线闪烁体热成像薄膜，将荧光粉或薄膜从20℃‑300℃升温，使用X射线源激发，通过检测薄膜发出的荧光信号可得到热成像图片，实现了X射线高温热成像模式，运用于荧光实时成像检测领域。另外，本发明专利技术所述X射线闪烁体薄膜与以激光作为激发源的光学热成像薄膜相比，由于X射线穿透能力更强，可以穿透物体表面，检测物体内部的信息，使用的温度范围更高，在300℃下未发生热猝灭，提升了薄膜的运用范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于荧光实时成像检测，具体涉及一种x射线闪烁体热成像薄膜与应用。

技术介绍

1、随着现代工业的发展，对产品质量的要求越来越高。荧光实时成像检测技术可以对产品的外观、尺寸、缺陷等进行高精度的检测，确保产品符合质量标准，提高生产效率和降低成本。荧光实时成像检测是一门涉及光学、电子学、计算机科学等多个领域的交叉学科，其基本原理是利用光学手段获取被检测物体的图像或光谱信息，然后通过对这些信息的分析和处理，来实现对物体的检测、测量、识别等功能。现在荧光实时成像检测技术主要集中在激光以及紫外光来作为激发源。但是，使用激光以及紫外光来作为激发源，其只能对物体表面进行照射，无法对物体内部进行检测。而且由于激光的功率过大，会对一些电子元器件造成损伤。由于大部分工业设备，工业器件在高温的环境下进行工作，在高温下荧光材料的光学信号发生严重热猝灭，因此保持高温下的发光性能及其重要。

技术实现思路

1、针对上述现有技术的缺点，本专利技术提供一种x射线闪烁体热成像薄膜与应用。

2、为实现上述目的，本专利技术采取的技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，为ZrMgMo3O12:Dy荧光粉薄膜；

2.如权利要求1所述X射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述聚二甲基硅氧烷、交联剂和ZrMgMo3O12:Dy荧光粉的质量百分含量分别为55％～65％、5％～7％、28％～40％。

3.如权利要求1所述X射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述交联剂为铂金催化剂。

4.如权利要求1所述X射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述ZrMgMo3O12:Dy荧光粉的制备方法包括：将Dy2O3加入ZrO2、MgO和MoO3的混合物中，加入乙醇研磨得到混合物料；然后将混合物料煅烧得...

【技术特征摘要】

1.一种x射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，为zrmgmo3o12:dy荧光粉薄膜；

2.如权利要求1所述x射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述聚二甲基硅氧烷、交联剂和zrmgmo3o12:dy荧光粉的质量百分含量分别为55％～65％、5％～7％、28％～40％。

3.如权利要求1所述x射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述交联剂为铂金催化剂。

4.如权利要求1所述x射线闪烁体热成像薄膜，其特征在于，所述zrmgmo3o12:dy荧光粉的制备方法包括：将dy2o3加入zro2、mgo和moo3的混...

【专利技术属性】
技术研发人员：寸阳珂，闫世磊，阮柯亮，刘月，黄安君，杨正文，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：发明
国别省市：