一种综合射频系统总体效能评估方法、设备与存储介质技术方案

技术编号:44389675 阅读:12 留言:0更新日期:2025-02-25 10:05
本发明专利技术公开了一种综合射频系统总体效能评估方法、设备与存储介质,该方法包括以下步骤:1)建立综合射频系统总体效能评估指标体系;综合射频系统的效能评估指标体系包括五层,由上至下分别是:总体效能层、功能任务效能层、任务能力层、技术性能层和技术性能评估指标层;2)采集获取技术性能层的性能指标;3)确定各性能指标的权重,构建综合射频系统的效能评估模型,进行综合射频系统总体效能评估。本发明专利技术提出一种综合射频系统总体效能评估指标体系,可用于海上或空基等平台综合射频系统总体效能的定量分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频装备性能综合评估技术,尤其涉及一种综合射频系统总体效能评估方法、设备与存储介质


技术介绍

1、综合射频系统是指在典型态势下探测、侦察、电子对抗、通联等不同功能的射频装备实现一体化集成,具备资源的集约化和智能控制与调度能力,在各种典型场景与应用方式下,针对不同功能的使用流程及综合射频系统功能间的资源相互约束条件,优化资源利用与作战流程,提升系统的综合效能。综合射频系统一般采用模块化、开放式、可重构的射频传感器系统体系架构,结合功能控制与资源调度算法、软件,实现雷达、电子战与通联、导航、识别等多种功能的系统集成。综合射频技术能够显著提高系统利用效率,快速应对新的应用需求,动态分配系统资源,降低传感器数量及生产成本,受到世界各国的普遍重视。


技术实现思路

1、本专利技术要解决的技术问题在于针对现有综合射频系统效能评估技术中的缺陷,提供一种综合射频系统总体效能评估方法、设备与存储介质。

2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种综合射频系统总体效能评估方法,包括以下步骤:...

【技术保护点】

1.一种综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,所述步骤2)中,技术性能层的性能指标通过系统设备属性参数直接获取、系统设备属性参数表征获取或通过建模获取。

3.根据权利要求1所述的综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,所述步骤2)中,性能指标D1至D5、 D7至D17以及 D19至D24通过系统设备属性参数获取;其中,多目标干扰能力D12采用同时多目标干扰批数表征,测频能力D15采用侦察功能的测频精度误差参数表征,测向能力D16采用侦察功能的测向误差参数表征,跟踪多目标容量D1...

【技术特征摘要】

1.一种综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,所述步骤2)中,技术性能层的性能指标通过系统设备属性参数直接获取、系统设备属性参数表征获取或通过建模获取。

3.根据权利要求1所述的综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,所述步骤2)中,性能指标d1至d5、 d7至d17以及 d19至d24通过系统设备属性参数获取;其中,多目标干扰能力d12采用同时多目标干扰批数表征,测频能力d15采用侦察功能的测频精度误差参数表征,测向能力d16采用侦察功能的测向误差参数表征,跟踪多目标容量d17采用侦察功能的同时跟踪多目标批数参数表征;其他性能指标通过系统设备属性参数直接获取。

4.根据权利要求1所述的综合射频系统总体效能评估方法,其特征在于,所述步骤2)中,性能指标抗干扰能力d6根据变频带...

【专利技术属性】
技术研发人员:裴雪兵江国星黄济潼吕遐东
申请(专利权)人:中国舰船研究设计中心
类型:发明
国别省市:

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