【技术实现步骤摘要】
本申请涉及杂质检测领域，尤其是涉及一种基于紫外荧光的杂质监测方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、紫外荧光法通过紫外光激发样品中的分子，使其处于激发态，然后通过荧光的辐射跃迁返回基态并发出荧光，根据荧光强度和特征波长的测量，可以得到物质的定量或定性信息。
2、通过紫外荧光法进行检测的一般步骤为：采集待检测的液体样品，并进行必要的预处理，如过滤、稀释等，以去除干扰物质并调整样品浓度至适宜范围。选择合适的紫外荧光检测仪，并根据待测杂质的特性设置激发波长和检测波长，激发波长的选择应能有效激发杂质分子产生荧光，而检测波长则应能准确捕捉并测量荧光信号。
3、当前，利用紫外荧光技术检测液体中杂质的方法，普遍依赖于静态设置的光源与检测装置，由于光源与检测单元均被固定于特定位置，难以灵活应对液体样本中杂质分布不均或动态变化的特性，从而导致了检测结果存在不可忽视的不确定性，进而影响了检测数据的准确性。
技术实现思路
1、为了提高检测液体中杂质的准确性，本申请提供一种基于紫外荧光的杂...
【技术保护点】
1.一种基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述方法应用于杂质监测装置，所述杂质监测装置包括发光模块，所述发光模块为可旋转模块，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述紫外数据包括紫外光波长，所述基于所述待检测液体对应的液体类别，确定所述待检测液体对应的至少两组紫外数据，包括：
3.根据权利要求2所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述生成每组所述紫外数据对应的检测指令，包括：
4.根据权利要求3所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述确定每个检测角度对应的旋转角度
【技术特征摘要】
1.一种基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述方法应用于杂质监测装置，所述杂质监测装置包括发光模块，所述发光模块为可旋转模块，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述紫外数据包括紫外光波长，所述基于所述待检测液体对应的液体类别，确定所述待检测液体对应的至少两组紫外数据，包括：
3.根据权利要求2所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述生成每组所述紫外数据对应的检测指令，包括：
4.根据权利要求3所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述确定每个检测角度对应的旋转角度，包括：
5.根据权利要求4所述的基于紫外荧光的杂质监测方法，其特征在于，所述基于所述发光模块的旋转速度以及旋...
【专利技术属性】
技术研发人员：王月声，邹文良，王子英，曹杰，
申请(专利权)人：北京菲舍波特科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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