【技术实现步骤摘要】
本公开内容总体上涉及材料测试系统，并且更具体地涉及具有传感器状态测试的材料测试系统。
技术介绍
1、使用材料测试机来测试各种材料试样的性质(例如，拉伸/挤压强度)。材料测试机的传感器可以在各种材料试样的测试期间进行测量，并且可以基于传感器的测量结果来评估试样的性质。
2、通过将这种系统与在本申请的其余部分参考附图阐述的本公开内容相比较，常规方法和传统方法的局限性和缺点对本领域技术人员而言将显而易见。
技术实现思路
1、本公开内容涉及利用传感器状态测试的材料测试系统，基本上如附图所展示的和/或如结合附图中的至少一个附图描述的并且如权利要求中更完整地阐述的。
2、从以下描述和附图，将更加充分地理解本公开内容的这些和其他优点、方面和新颖特征以及本公开内容的所展示示例的细节。
【技术保护点】
1.一种材料测试系统，包括：
2.如权利要求1所述的系统，其中，确定所述测试传感器是否正确操作包括确定在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果是否在预期测量结果的指定容差内，所述测试结果包括在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果。
3.如权利要求1所述的系统，其中，所述计算设备进一步包括存储时间参数的存储器电路系统，所述处理电路系统进一步被配置为：响应于确定所述测试传感器正确操作而在一定时间延迟之后再次执行所述传感器测试方法，所述时间延迟是基于存储在所述存储器电路系统中的所述时间参数来确定的。
4.如权利要...
【技术特征摘要】
1.一种材料测试系统，包括：
2.如权利要求1所述的系统，其中，确定所述测试传感器是否正确操作包括确定在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果是否在预期测量结果的指定容差内，所述测试结果包括在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果。
3.如权利要求1所述的系统，其中，所述计算设备进一步包括存储时间参数的存储器电路系统，所述处理电路系统进一步被配置为：响应于确定所述测试传感器正确操作而在一定时间延迟之后再次执行所述传感器测试方法，所述时间延迟是基于存储在所述存储器电路系统中的所述时间参数来确定的。
4.如权利要求1所述的系统，其中，所述传感器测试方法包括第一传感器测试方法，所述测试结果包括第一测试结果，所述测试传感器包括第一测试传感器，所述材料测试机进一步包括第二测试传感器，并且所述处理电路系统进一步被配置为：
5.如权利要求4所述的系统，其中，所述处理电路系统进一步被配置为：响应于确定所述第二测试传感器正确操作，针对所述材料测试机的每个附加测试传感器相继执行附加传感器测试方法，直到每个附加测试传感器都已经被确定为正确操作，或者直到有附加测试传感器被确定为不正确操作。
6.如权利要求1所述的系统，进一步包括：
7.如权利要求1所述的系统，其中，所述处理电路系统进一步被配置为基于存储在所述计算设备的存储器电路系统中的事件记录来确定是否存在所述材料测试机的所述测试传感器未正确操作的指示，所述事件记录包括在测试方法的设置、执行或分析期间发生的事件的日志，其中，响应于确定存在所述测试传感器未正确操作的指示来执行所述传感器测试方法。
8.一种非暂态计算机可读介质，包括机器可读指令，所述机器可读指令在由处理器执行时使所述处理器进行以下操作：
9.如权利要求8所述的非暂态计算机可读介质，其中，确定所述测试传感器是否正确操作包括确定在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果是否在预期测量结果的指定容差内，所述测试结果包括在执行所述传感器测试方法期间所述测试传感器的测量结果。
10.如权利要求8所述的非暂态计算机可读介质，进一步包括时间参数，所述机器可读指令在由所述处理器执行时进一步使所述处理器响应于确定所述测试传感器正确操作而在一定时间延迟之后再次执行所述传感器测试方法，所述时间延迟是基于所述时间参数来确定的。
11.如权利要求8所述的非暂态计算机可读介质，其中，所述传感器测试方法包括第一传感器测试方法，所述测试结果包括第一测试结果，所述测试传感器包括第一测试传感器，所述材料测...
【专利技术属性】
技术研发人员：丹尼尔·文森特·凯撒，斯科特·尼科尔，玛丽·E·波普，兰登·马克·戈尔法布，杰森·莫斯，
申请(专利权)人：伊利诺斯工具制品有限公司，
类型：发明
国别省市：
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