【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光频梳测距的方法，尤其涉及一种单光频梳辅助的激光相推测距方法及装置。
技术介绍
1、激光测距是一种非接触式的测量技术，具有单色性好、方向性强、测距精度高的特性，被广泛应用于国防、建造业、航空航天和工程测量等领域。常用的测距方法中，脉冲法通过直接测量发射脉冲和接收脉冲之间的时间差来计算目标距离，其测量速度快，量程可达上千米，但是测距精度受限于脉冲的宽度，最高只能达到毫米级。频率扫描干涉法通过激光连续线性扫频，在干涉频率处得到时延信息从而计算目标距离，但受限于激光器频率调谐速度和后续算法处理，导致其测量速度较慢。相位法是根据调制后的光波往返于被测距离所产生的相位差来间接计算目标距离，其测距精度依赖于高频信号，需要高性能探测器和高速adc，处理器运算量大，系统的硬件成本高。此外，由于鉴相器得到的相位存在2π模糊，常使用相推法来解决这一问题，这需要调制一系列的微波信号进行相位解缠，从而限制了其测量速度。光学频率梳以其超高频率稳定性、良好的相干性和宽频谱范围等特性而成为一类新的测量手段，为传统绝对距离测量技术的发展带来了新的思路...
【技术保护点】
1.一种单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述获取探测光信号以及与所述探测光信号对应的参考光信号，包括：
3.如权利要求1所述单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述利用单频微波信号对所述参考光信号和所述探测回波光信号进行双边带强度调制，包括：
4.如权利要求1所述的单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述在数字域分别计算调制后的所述参考光信号和所述探测回波光信号经过拍频所得的频率分量，包括：
5.如权利要求1所述的单光频...
【技术特征摘要】
1.一种单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述获取探测光信号以及与所述探测光信号对应的参考光信号，包括：
3.如权利要求1所述单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述利用单频微波信号对所述参考光信号和所述探测回波光信号进行双边带强度调制，包括：
4.如权利要求1所述的单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述在数字域分别计算调制后的所述参考光信号和所述探测回波光信号经过拍频所得的频率分量，包括：
5.如权利要求1所述的单光频梳辅助的激光相推测距方法，其特征在于，所述利用时相结合法对所述参考光电流信号和所述探测回波光电流信号相应频率分量之间相位差进行解模糊，得到所述待测链路精确的空间距离...
【专利技术属性】
技术研发人员：王祥传，桑倩雯，潘时龙，王立晗，汤晓虎，刘熙，章志健，王静娴，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：
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