一种基于ATE利用主机接口引导启动配置的DSP芯片测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于ATE利用主机接口引导启动配置的DSP芯片测试方法，首先获取不同DSP芯片测试项的Stil文件并存放于ATE，然后，然后ATE通过主机接口重复引导启动配置，将Stil文件以配置向量的格式导入测试程序中，对其进行配置和测试，解决了基于ATE的DSP测试技术中的离线重复功能配置问题。本发明专利技术的优点在于：基于ATE可以对待测DSP芯片进行离线重复功能配置测试，测试过程不需要在线连接PC机进行下载程序，也不需要提前将程序烧录于外挂FLASH中。相较于传统外挂FLASH的配置方法更加灵活，可以随时根据测试需求更改测试配置码流，且不存在外挂FLASH配置方式测试中的FLASH器件读写寿命问题，以及相较于外挂FLASH的启动配置，待测DSP芯片通过主机接口的启动配置速度更快，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于dsp芯片测试，更为具体地讲，涉及一种基于ate(automatictest equipment，自动测试设备)利用主机接口引导启动配置的dsp芯片测试方法。

技术介绍

1、目前dsp芯片测试普遍采用外挂flash来加载存储测试可执行文件即测试程序，在测试过程往往仅实现单次加载测试程序，这样对于dsp芯片的内部资源测试覆盖率较低。而对测试覆盖率要求更高的，使用的是通过jtag连接仿真器并经由pc主机对dsp芯片进行配置，此举虽然达到了dsp芯片测试覆盖率要求，但测试过程步骤繁琐，需要人工干预操作，不利于自动化测试。

2、在2023年04月07日公布的、公布号为cn115933579a、名称为“一种基于ate的dsp芯片测试系统”的中国专利技术专利申请中，如图1所示，该测试系统包括：配置程序编写模块，用于编写适配待测dsp芯片的测试项目的dsp配置程序；dsp配置程序包括与每一测试项目对应的测试配置子程序；所述dsp配置程序用于对待测dsp芯片进行上电配置；ate测试设备，包括：指令存储模块，用于存储每一测试项目对应的gpio测试交本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于ATE利用主机接口引导启动配置的DSP芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的于ATE利用主机接口引导启动配置的DSP芯片测试方法，其特征在于，采用TI官方的EDA软件Code Composer Studio 3.3编写的测试用的C用户代码即C源文件C source file，然后用C语言编译器Ccompiler进行编译，得到目标文件Objectfile。

3.根据权利要求1所述的于ATE利用主机接口引导启动配置的DSP芯片测试方法，其特征在于，采用de Composer Studio 3.3软件的链接器Linker通过链接官...

【技术特征摘要】

1.一种基于ate利用主机接口引导启动配置的dsp芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的于ate利用主机接口引导启动配置的dsp芯片测试方法，其特征在于，采用ti官方的eda软件code composer studio 3.3编写的测试用的c用户代码即c源文件c source file，然后用c语言编译器ccompiler进行编译，得到目标文件objectfile。

3.根据权利要求1所述的于ate利用主机接口引导启动配置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：武睿，戴志坚，解维坤，黄英杰，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：