一种覆铜陶瓷基板定位测量机构制造技术

本技术涉及覆铜陶瓷基板检测的技术领域，提出了一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，包括传感测量装置和定位装置，所述定位装置包括放置基板主体的工作台、推进组件一、推进组件二、推进组件三和固定挡板；所述推进组件一包括推进板一和推进器一，所述推进板一位于工作台台面上；所述推进器一位于工作台下方，包括推进齿条以及与推进齿条啮合匹配的推进齿轮；所述推进组件二和推进组件三相对位于工作台的两个侧边，均包括一推进板二和能够促使推进板二向工作台中心方向做往返运动的推进器二；所述固定挡板固定在工作台台面上方。本技术实现了对任意尺寸待测量基板主体的定位，且定位过程稳定，对基板主体缓慢推进，防止基板主体损坏。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及覆铜陶瓷基板检测的，具体的，涉及一种覆铜陶瓷基板定位测量机构。

技术介绍

1、覆铜陶瓷基板的测量主要分为接触式测量和非接触式测量。其中接触式测量需要将基板固定，确保位置和角度的准确性，采用电感位移传感器、通过传感器与铜基板表面接触获取轮廓数据，通过软件进行数据处理和分析，计算出铜基板平面度是否有偏差，具有更高的精度以及稳定性，适用于高精度测量； 非接触式测量采用激光测距传感器或光学图像传感器，在测量过程中需要将光源投射到定位好的铜基板表面，通过传感器接收反射的光线，对应获取各点的实际位置，从而计算出铜基板的平面度，测量速度更快，适用于测量高速移动的物体，但是对被测物体表面要求很高，会受到表面质量以及光线影响。

2、从而，不管是那种测量方式都需要将基板先精准的定位，并且考虑到基板的尺寸及测量要求不同，且脆性较高，定位装置还要匹配不同的尺寸，且定位过程要缓慢稳定，防止基板损坏。

技术实现思路

1、本技术提出一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，实现了对任意尺寸待测量基板主体的定位，且定位过程稳定，对本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，包括传感测量装置和定位装置，所述定位装置包括放置基板主体（100）的工作台（10），所述工作台（10）具有四个依次相连的第一侧边（101）、第二侧边（102）、第三侧边（103）和第四侧边（104），其特征在于，

2.根据权利要求1所述的一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，其特征在于，所述推进板二（21）为折弯板，包括呈一定角度的平板一（211）和平板二（212），所述平板一（211）与工作台（10）台面平行，平板二（212）连接推进器二（22）。

3.根据权利要求2所述的一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，其特征在于，所述平板二（212）的...

【技术特征摘要】

1.一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，包括传感测量装置和定位装置，所述定位装置包括放置基板主体（100）的工作台（10），所述工作台（10）具有四个依次相连的第一侧边（101）、第二侧边（102）、第三侧边（103）和第四侧边（104），其特征在于，

2.根据权利要求1所述的一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，其特征在于，所述推进板二（21）为折弯板，包括呈一定角度的平板一（211）和平板二（212），所述平板一（211）与工作台（10）台面平行，平板二（212）连接推进器二（22）。

3.根据权利要求2所述的一种覆铜陶瓷基板定位测量机构，其特征在于，所述平板二（212）的底部固定有水平滑板（213），所述水平滑板（213）的底部固定有导滑块（214）以及与导滑块（214）匹配的导滑轨道二（215），所述导滑轨道二（215）沿第一侧边（101）的长度方向设置，所述推进器二（22）连接在水平滑板（213）上。

4.根据权利要求1所述的一种覆铜...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈耿，宋立峰，苑海龙，刘晗，伊景甫，陈文，谢炎，
申请(专利权)人：山东厚发芯源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：