【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及失效分析领域,具体是一种无损去除故障件表面涂覆层的方法。
技术介绍
1、在进行带涂覆层的故障件失效分析工作时,需要观察分析涂覆层下的基体失效行为,因此需要除去表面涂覆层。目前常用的去除涂覆层的方法有两种,一是通过有损的机械手段将涂覆层打磨掉,但这会导致涂覆层下基体表面产生损伤,干扰后续的失效分析工作;二是采用化学溶解剂将故障件表面的涂覆层溶去,但这会产生新的问题,一是溶解时间长,影响失效分析工作的时效性;二是针对不同的涂覆层需要配备不同的溶解剂,方法繁杂耗时;三是针对某型特殊基体材料,溶解剂可能也会对其表面造成损伤,不利于后续工作的开展。
2、因此,亟需设计一种可以快速无损去除故障件表面涂覆层,且不会对涂覆层下基体材料表面造成损伤的方法。
技术实现思路
1、为了解决上述问题,本专利技术提出一种无损去除故障件表面涂覆层的方法。
2、一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其具体步骤如下:
3、s1、备料:准备5个不同尺寸的硅胶体,形状均为长方体;
4、s本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:其具体步骤如下:
2.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:所述的步骤S1中五个硅胶体的尺寸分别为30mm*30mm*30mm,40mm*30mm*30mm,50mm*30mm*30mm,60mm*30mm*30mm,70mm*30mm*30mm。
3.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:所述的步骤S2中T形槽的尺寸根据所用的硅胶体的尺寸确定。
4.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:所述
...【技术特征摘要】
1.一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:其具体步骤如下:
2.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:所述的步骤s1中五个硅胶体的尺寸分别为30mm*30mm*30mm,40mm*30mm*30mm,50mm*30mm*30mm,60mm*30mm*30mm,70mm*30mm*30mm。
3.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表面涂覆层的方法,其特征在于:所述的步骤s2中t形槽的尺寸根据所用的硅胶体的尺寸确定。
4.根据权利要求1所述的一种无损去除故障件表...
【专利技术属性】
技术研发人员:马政,姜涛,刘健,朱强强,欧阳康,王冉,
申请(专利权)人:国营芜湖机械厂,
类型:发明
国别省市:
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