【技术实现步骤摘要】
本公开一般涉及显示面板,尤其涉及一种显示面板的测试接垫和显示面板中测试接垫的制备方法。
技术介绍
1、随着电子设备的发展,显示面板也在不断发展,功能在不断丰富。
2、为了保证显示面板中各功能模块的信号传递,往往会在显示面板的非显示区域设置测试接垫(ct pad),该测试接垫能够在显示面板的制作过程中即为显示面板进行ct测试(cell test),通过治具给显示面板上的测试接垫提供信号,由测试接垫将信号传递至显示面板的各个功能模块,进而对显示面板的各功能模块进行测试。
3、然而,在此过程中,由于测试接垫中与不同功能模块对应的用于传输信号的各导电膜层之间往往难以完全刻蚀干净,进而会导致不同功能模块之间的导电膜层相连,因此,在测试阶段容易出现闪屏等问题,影响测试的准确度。
技术实现思路
1、鉴于相关技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种显示面板的测试接垫和显示面板中测试接垫的制备方法,能够解决由于测试接垫中与不同功能模块对应的用于传输信号的各导电膜层之间往往难以完全刻蚀干净
...【技术保护点】
1.一种显示面板的测试接垫,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的测试接垫,所述有机膜层在所述基板的正投影包括第一区域和第二区域,所述第二区域为所述电连接间断结构在所述基板的正投影;
3.根据权利要求2所述的测试接垫,其特征在于,所述电连接间断结构的高度与所述有机膜层的光刻蚀的光照深度相对应。
4.根据权利要求2所述的测试接垫,其特征在于,所述第二区域对应的有机膜层的边缘包括以下任一项:直线边缘,包括多个凹陷部的边缘。
5.根据权利要求1所述的测试接垫,其特征在于,在所述有机膜层靠近所述基板的一侧设置有多个所述电连
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板的测试接垫,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的测试接垫,所述有机膜层在所述基板的正投影包括第一区域和第二区域,所述第二区域为所述电连接间断结构在所述基板的正投影;
3.根据权利要求2所述的测试接垫,其特征在于,所述电连接间断结构的高度与所述有机膜层的光刻蚀的光照深度相对应。
4.根据权利要求2所述的测试接垫,其特征在于,所述第二区域对应的有机膜层的边缘包括以下任一项:直线边缘,包括多个凹陷部的边缘。
5.根据权利要求1所述的测试接垫,其特征在于,在所述有机膜层靠近所述基板的一侧设置有多个所述电连接区域,不同电连接区域对应不同的信号检测区域,所述有机膜层中设置有与所述电连接区域相对应的电连接转孔;
6.根据权利要求5所述的测试接垫,其特征在于,所述电连接区域为所述有机膜层靠近所述显示面板的源漏极层,相邻的所述源漏极层之间断开。
7.根据权利要求1所述的测试接垫,其特征在于,所述有机膜层靠近所述显示面板边缘一侧的第一边缘至所述基板之间包括斜坡结构,所述第一边缘与远离所述显示面板边缘的一侧的所述基板之间的坡度小于预设坡度,所述预设坡度与光刻蚀工艺的光照...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈俊明,王小元,蒲巡,杨国栋,刘剑峰,万彬,刘艳,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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