【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及安检，尤其涉及一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法。
技术介绍
1、出于对公共安全的可靠保障，在一些特殊的场合，比如人员聚集性的会议，以及一些特定的场景，比如乘地铁、高铁等轨道交通工具出行或乘坐飞机等民用航空工具出行时，均需要对乘客随身携带的各种物品进行安全检查。
2、其中，对于装有液体的容器进行检测时，通常需要将装有液体的容器放置在专用的液体检测仪器上，以判断容器中是否含有例如硫酸、酒精、汽油等液态违禁品。但是，现有的液体检测仪器无法有效计量出容器中存储的液体的具体体积，从而即便当判断出容器中存在液态违禁品时，也无法结合液态违禁品的具体性质和量级而对其危害性进行估量，使得公共安全仍然存在一定的安全隐患。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，用以解决现有技术中无法确定容器中存储的液体的具体体积，导致安检的安全性较低的缺陷，实现准确确定容器中存储的液体的体积，提升了安检的安全性。
2、本专利技术提供一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，包括：
3、在基于包括待检测包裹的x光图像确定所述待检测包裹中存在待检测液体的情况下，基于所述x光图像确定所述待检测液体的目标液体类型；
4、在基于所述目标液体类型确定所述待检测液体为液态违禁品的情况下，确定x光图像中所述待检测液体对应的各像素点表征的在高度方向上的实际高度距离；
5、基于各所述像素点对应的实际高度距离、各所述像素点在
6、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述确定x光图像中所述待检测液体对应的各像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
7、针对所述x光图像中所述待检测液体对应的各像素点，获取所述待检测液体对应的高能子图像中所述像素点的初始高能x射线强度，以及所述像素点的衰减后的高能x射线强度；
8、获取所述待检测液体对应的低能子图像中所述像素点的初始低能x射线强度，以及所述像素点的衰减后的低能x射线强度；
9、基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度和所述衰减后的低能x射线强度，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离。
10、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度和所述衰减后的低能x射线强度，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
11、基于液体类型、x射线能量值和介质衰减系数的对应关系，确定x射线高能量值下所述目标液体类型对应的第一介质衰减系数，以及x射线低能量值下所述目标液体类型对应的第二介质衰减系数；
12、基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度、所述衰减后的低能x射线强度、所述第一介质衰减系数和所述第二介质衰减系数，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离。
13、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度、所述衰减后的低能x射线强度、所述第一介质衰减系数和所述第二介质衰减系数，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
14、基于公式（1）确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离：
15、（1）
16、其中，表示像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，表示第一介质衰减系数，表示第二介质衰减系数，表示所述低能子图像中像素点处的初始低能x射线强度，表示所述低能子图像中像素点处衰减后的低能x射线强度，表示所述高能子图像中像素点处的初始高能x射线强度，表示所述高能子图像中像素点处衰减后的高能x射线强度。
17、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于各所述像素点对应的实际高度距离、各所述像素点在水平方向上表征的实际水平距离和各所述像素点在垂直方向上表征的实际垂直距离，确定所述待检测液体的体积，包括：
18、针对各所述像素点，基于所述像素点对应的实际高度距离、所述像素点在水平方向上表征的实际水平距离和所述像素点在垂直方向上表征的实际垂直距离，确定所述像素点对应的待检测液体的体积；
19、将所有像素点对应的待检测液体的体积之和，确定为所述待检测液体的体积。
20、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述方法还包括：
21、获取针对标准件的至少一张参考x光图像；
22、针对各所述参考x光图像，获取所述参考x光图像中所述标准件在所述水平方向上的第一像素长度；
23、基于所述第一像素长度和所述标准件在所述水平方向上的第一实际长度，确定所述参考x光图像中各所述像素点在水平方向上表征的水平距离；
24、将所有参考x光图像中各所述像素点在水平方向上表征的水平距离的平均值，确定为所述实际水平距离。
25、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述方法还包括：
26、针对各所述参考x光图像，获取所述参考x光图像中所述标准件在所述垂直方向上的第二像素长度；
27、基于所述第二像素长度和所述标准件在所述垂直方向上的第二实际长度，确定所述参考x光图像中各所述像素点在垂直方向上表征的垂直距离；
28、将所有参考x光图像中各所述像素点在垂直方向上表征的垂直距离的平均值，确定为所述实际垂直距离。
29、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于所述x光图像确定所述待检测液体的目标液体类型，包括：
30、基于目标像素点的初始高能x射线强度、衰减后的高能x射线强度、初始低能x射线强度和衰减后的低能x射线强度，确定所述待检测液体的特征值，所述目标像素点为所述x光图像中所述待检测液体对应的任一像素点，所述特征值为用于表征物质属性的值；
31、基于所述待检测液体的特征值，确定所述待检测液体的目标液体类型。
32、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于所述待检测液体的特征值，确定所述待检测液体的目标液体类型，包括：
33、基于所述待检测液体的特征值，确定所述待检测液体的成分的相对原子序数；
34、基于液体类型和相对原子序数区间的对应关系，将所述相对原子序数所属的目标相对原子序数区间对应的液体类型，确定为所述目标液体类型。
35、根据本专利技术提供的一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，所述基于目标像素点的初始高能x射线强度、衰减后的高能x射线强度、初始低能x射线强度和衰减后的低能本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述确定X光图像中所述待检测液体对应的各像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
3.根据权利要求2所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述初始高能X射线强度、所述衰减后的高能X射线强度、所述初始低能X射线强度和所述衰减后的低能X射线强度，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
4.根据权利要求3所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述初始高能X射线强度、所述衰减后的高能X射线强度、所述初始低能X射线强度、所述衰减后的低能X射线强度、所述第一介质衰减系数和所述第二介质衰减系数，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
5.根据权利要求3所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于各所述像素点对应的实际高度距离、各所述像素点在水平方向上表征的实际水平距离和各所述像素点在垂直方向上表征的实
6.根据权利要求1所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.根据权利要求2-5任一项所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述X光图像确定所述待检测液体的目标液体类型，包括：
9.根据权利要求8所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述待检测液体的特征值，确定所述待检测液体的目标液体类型，包括：
10.根据权利要求8所述的基于X光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于目标像素点的初始高能X射线强度、衰减后的高能X射线强度、初始低能X射线强度和衰减后的低能X射线强度，确定所述待检测液体的特征值，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述确定x光图像中所述待检测液体对应的各像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
3.根据权利要求2所述的基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度和所述衰减后的低能x射线强度，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
4.根据权利要求3所述的基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于所述初始高能x射线强度、所述衰减后的高能x射线强度、所述初始低能x射线强度、所述衰减后的低能x射线强度、所述第一介质衰减系数和所述第二介质衰减系数，确定所述像素点表征的在高度方向上的实际高度距离，包括：
5.根据权利要求3所述的基于x光图像的液态违禁品体积测量方法，其特征在于，所述基于各所述像素点...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雷雷，赵盛盛，姬光，张恩伟，尹宇鹤，曹云，
申请(专利权)人：北京声迅电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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