一种以太网PHY芯片Link时间的测试方法和网络设备技术

本发明专利技术公开了一种以太网PHY芯片Link时间的测试方法和网络设备，包括以下步骤：操作系统向微控制单元下发测试开始命令；收到测试开始命令的微控制单元下发给以太网PHY芯片复位指令触发Link down，同时传递已完成下发复位命令的消息给到操作系统，操作系统收到消息后记录时间为T1；微控制单元不间断读取以太网PHY芯片状态，当检测到Link up状态后，停止读取并同时传递以太网PHY芯片已经Link up的消息给到操作系统，操作系统收到消息后记录时间为T2；根据操作系统记录的时间T1和T2，得到所述PHY芯片的Link up时间。本发明专利技术测试方法简单，受网络设备的系统延迟影响小，测试精度高，且不依赖高精度仪器完成测量，测试成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及网络，特别涉及一种以太网phy芯片link时间的测试方法和网络设备。

技术介绍

1、随着以太网技术在社会生活各个领域的发展，以太网正在逐步深入至数据通讯，工业控制以及车载等领域，不同领域对于以太网都有不同的标准和要求。其中以太网phy芯片link up时间是以太网技术的一个重要指标，尤其在工业以太网和车载以太网中，芯片的link up时间都需要达到毫秒级别，这就对以太网phy芯片的link up时间测试准确性提出了更高的要求。

2、常用的测试方法主要包括直接量测以太网phy链路信号和软件读取以太网phy芯片状态两种：

3、(1)量测以太网phy链路信号的方法主要通过示波器等仪器检测以太网phy芯片link down和link up前后的信号变化计算出时间。该方法适用于芯片研发阶段的测试和单颗芯片的测试，精确度高，但不适用于多次数压力测试，此外需要示波器等高精度仪器的支持，测试成本较高；

4、(2)软件读取的方法主要通过上层操作系统(operating system，os)下发复位指令到微控制单元(micro本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种以太网PHY芯片Link时间的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的以太网PHY芯片Link时间的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：将复位指令和获取Link状态指令写入微控制单元。

3.根据权利要求1所述的以太网PHY芯片Link时间的测试方法，其特征在于，所述PHY芯片的Link up时间＝T2-T1。

4.根据权利要求1所述的以太网PHY芯片Link时间的测试方法，其特征在于，所述T1内包含微控制单元向操作系统传递过程的延长时间T0。

5.根据权利要求1所述的以太网PHY芯片Link时间的测试方法，其...

【技术特征摘要】

1.一种以太网phy芯片link时间的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的以太网phy芯片link时间的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：将复位指令和获取link状态指令写入微控制单元。

3.根据权利要求1所述的以太网phy芯片link时间的测试方法，其特征在于，所述phy芯片的link up时间＝t2-t1。

4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：洋洋，吕建新，
申请(专利权)人：裕太微上海电子有限公司，
类型：发明
国别省市：