颗粒分析仪的表征和分选制造技术

技术编号:44111566 阅读:46 留言:0更新日期:2025-01-24 22:36
非参数变换(例如t‑分布随机近邻嵌入(tSNE))可用于分析多参数数据,例如源自流式细胞术或其他颗粒分析系统及方法的数据。本发明专利技术可以包括这些变换,以用于降维和亚群识别(例如设门)。从本质上讲,非参数变换在未基于所述整个数据集(包括新观测值)训练新变换的情况下无法变换所述新观测值。所述功能利用神经网络使非参数变换参数化,从而允许采用非参数技术变换小型训练数据集。所述训练数据集之后可用于生成准确的参数模型,以便采用与所述初始事件一致的方式评估其他事件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术通常涉及自动颗粒评估,更具体而言,涉及样品分析和颗粒表征方法。


技术介绍

1、颗粒分析仪(例如,流式细胞仪和扫描式细胞仪)是一种分析工具,其可基于光散射和荧光等电光测量值来表征颗粒。在流式细胞仪中,例如,流体悬浮液中的颗粒(例如分子、与分析物结合的微珠或个别细胞)通过检测区域,在所述区域内,所述颗粒暴露于通常来自一个或更多个激光器的激发光中,并且测定所述颗粒的光散射和荧光特性。颗粒或其组分通常用荧光染料标记以便进行检测。各种不同的颗粒或组分可以通过用光谱特性不同的荧光染料标记来同时加以检测。在一些实施方案中,所述分析仪包括多个光电检测器,一个适用于待测定的每个散射参数,一个或更多个适用于待检测的每种不同染料。例如,一些实施例包括光谱结构,其中针对每种染料使用一个以上的传感器或检测器。所获得的数据包含针对所述光散射检测器和所述荧光发射中的每一项测得的所述信号。

2、颗粒分析仪可以进一步包含用于记录所测得的数据并分析所述数据的装置。例如,可以使用与所述检测电子器件连接的计算机来进行数据存储和分析。例如,所述数据可以列表形式存储,其中每一行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种系统,其包含:

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述分析装置包含与偏转板以通信方式耦合的分选电子器件,以及

3.根据权利要求3所述的系统,其中分析装置包含射流系统,以及

4.一种系统,其包含:

5.根据权利要求5所述的系统,其中非参数变换包含t-分布随机近邻嵌入(tSNE)。

6.根据权利要求4-5中任一项所述的系统,其中来自所述光检测系统的第一组数据信号包含来自流式细胞仪的10000个或更少个检测到的细胞的数据。

7.根据权利要求4-6中任一项所述的系统,其中所述处理器包含与所述处理器可操作地耦合的存储器...

【技术特征摘要】

1.一种系统,其包含:

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述分析装置包含与偏转板以通信方式耦合的分选电子器件,以及

3.根据权利要求3所述的系统,其中分析装置包含射流系统,以及

4.一种系统,其包含:

5.根据权利要求5所述的系统,其中非参数变换包含t-分布随机近邻嵌入(tsne)。

6.根据权利要求4-5中任一项所述的系统,其中来自所述光检测系统的第一组数据信号包含来自流式细胞仪的10000个或更少个检测到的细胞的数据。

7.根据权利要求4-6中任一项所述的系统,其中所述处理器包含与所述处理器可操作地耦合的存储器,其中所述存储器包括存储于其上的指令,所述指令由所述处理器执行时,会使所述处理器通过添加噪声分量而生成所述第二变换后数据集。

8.根据权利要求7所述的系统,其中所述处理器包含与所述处理器可操作地耦合的存储器,其中所述存储器包括存储于其上的指令,所述指令由所述处理器执行时,会使所述处理器通过向来自所述光检测系统的所述第一组数据信号、所述第一变换后数据集及其组合中的一项或更多项中添加噪声分量而生成所述第二变换后数据集。

9.根据权利要求8所述的系统,其中所述处理器包含与所述处理器可操作地耦合的存储器,其中所述存储器包括存储于其上的指令,所述指令由所述处理器执行时,会使所述处理器通过向包含原始数据点和变换后数据点的数据对中添加噪声分量而生成所述第二变换后数据集。

10.根据权利要求9所述的系统,其中所述原始数据点和所述变换后数据点通过随机选择选定。

11.根据权利要求10所述的系统,其中所述原始数据点和所述变换后数据...

【专利技术属性】
技术研发人员:乔纳森·林约瑟夫·特罗特基根·奥斯利
申请(专利权)人:贝克顿·迪金森公司
类型:发明
国别省市:

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