一种低杂光紫外可见光谱仪及目标光谱辐亮度检测方法技术

本发明专利技术公开了一种低杂光紫外可见光谱仪及目标光谱辐亮度检测方法，该光谱仪包括光学镜筒模块、消杂光模块和分光探测模块，其中，消杂光模块包含短波通滤光片A、短波通滤光片B，两短波通滤光片可依次插入光路；目标光束经过光学镜筒模块接受和汇聚，并由消杂光模块消除杂散光影响之后进入分光探测模块，从而对目标光束进行分光和探测，形成低杂光的目标光谱信号。该目标光谱辐亮度检测方法是对低杂光紫外可见光谱仪进行光谱定标、分段辐射定标后，用于目标光谱辐亮度的高精度解算。本发明专利技术采用多种短波通滤光片组合和分段辐射定标，能以较低的经济成本、时间成本在紫外可见探测波长范围获得良好的消杂光效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电探测，具体是一种显著提高紫外波段辐射测量精度的低杂光紫外可见光谱仪及目标光谱辐亮度检测方法。

技术介绍

1、紫外可见光谱仪在环境探测、生命科学、生物技术等领域有广泛的应用。光谱仪的色散元件将狭缝的空间像分波长落在探测阵列的不同区域，理想情况下， 每个波长和视场的像会落在探测阵列对应的特定区域上，然而实际情况是，受到结构表面多次反射、高阶衍射等非理想因素影响，探测阵列除了特定波长、特定视场的像之外，还会接收到非正常路径到达的其他波长的杂光，即光谱杂光，也会接收到非正常路径到达的其他视场的杂光，即空间杂光，其中，光谱杂光是多数应用中的主要杂光。光谱杂光可能会导致较大的测量误差，影响目标探测数据的定量分析。

2、通常用于消除光谱杂光影响的方法有：线性渐变滤光片法、短波通滤光片、数据后处理法等。线性渐变滤光片法是将线性渐变滤光片安装于探测阵列上并令滤光片透过波长与探测阵列上的对应波长特定区域重合，进而滤除每个特定区域所有无关波段的光谱杂光，进而大幅度滤除光谱杂光；短波通滤光片是在光谱仪工作波段范围透过、其余探测器响应波长截止的滤光片，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种低杂光紫外可见光谱仪，包括：光学镜筒模块(1)和分光探测模块(3)，其特征在于，在所述光学镜筒模块(1)中嵌入有消杂光模块(2)，所述消杂光模块(2)包含：短波通滤光片A(2.1)、短波通滤光片B(2.2)以及通道切换装置(2.3)；

2.根据权利要求1所述一种低杂光紫外可见光谱仪，其特征在于：

3.一种目标光谱辐亮度检测方法，其特征在于，应用于权利要求1或2所述的低杂光紫外可见光谱仪中，并包括以下几个步骤：

【技术特征摘要】

1.一种低杂光紫外可见光谱仪，包括：光学镜筒模块(1)和分光探测模块(3)，其特征在于，在所述光学镜筒模块(1)中嵌入有消杂光模块(2)，所述消杂光模块(2)包含：短波通滤光片a(2.1)、短波通滤光片b(2.2)以及通道...

【专利技术属性】
技术研发人员：李孟凡，胡亚东，方缘，储洋浩，王相京，裘桢炜，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：