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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的一方式涉及一种放射线检测装置、放射线检测系统及放射线检测方法。
技术介绍
1、先前以来,已知有一种检测透过对象物的放射线的放射线检测装置。这样的放射线检测装置中,例如通过检测元件的直接转换材料,将透过对象物的放射线直接转换成电荷,且通过像素电极收集电荷,由此检测放射线,获得放射线摄像图像。此处,这样的放射线检测装置中,若对检测元件连续持续照射放射线,则有检测元件中产生极化现象(polarization),导致放射线摄像图像劣化的情况。因此,谋求消除检测元件中的极化现象。
2、专利文献1所记载的放射线检测装置中,通过自hv(high voltage:高电压)电源装置供给至放射线检测装置的hv以规定的周期接通/断开,而消除放射线检测装置中的极化现象。
3、专利文献2所记载的一对放射线检测装置中,自偏置电源对构成一阵列的放射线检测装置供给偏置电压的情况下,在构成一阵列的放射线检测装置中产生极化现象之前,对构成另一阵列的放射线检测装置切换偏置电压的供给端,由此抑制放射线检测装置中极化现象的产生。
4、专利文献3所记载的多个放射线检测装置中,通过以对各个放射线检测装置的偏置施加停止期间互不重复的方式施加偏置电压,而抑制多个放射线检测装置中同时产生极化现象。
5、现有技术文献
6、专利文献
7、专利文献1:日本专利特表2006-513406号公报
8、专利文献2:日本专利特开2008-304420号公报
9、专利文献3:国际公开公报w
技术实现思路
1、专利技术想要解决的问题
2、上述的放射线检测装置中,为了消除放射线检测装置中的极化现象,不考虑放射线检测装置外部的状况而停止偏置电压的施加。因此,在放射线检测装置中消除检测元件的极化现象的时刻、与入射至放射线检测装置的放射线透过对象物的时刻重复的情况下,有放射线检测装置无法检测透过对象物的放射线的担忧。
3、本专利技术的一方式是鉴于上述实际情况而完成的,是关于可抑制检测元件中极化现象的产生,且在入射至放射线检测装置的放射线透过对象物的情况下可更可靠地检测该放射线的放射线检测装置、放射线检测系统及放射线检测方法。
4、解决问题的技术手段
5、(1)本专利技术的一方式的放射线检测装置具备:检测元件,其将入射的放射线直接转换成电荷,且将对多个像素电极中的每个收集电荷的结果作为摄像图像数据输出;电压源,其对检测元件施加偏置电压;及控制部,其电连接于检测元件及电压源;控制部具有:判定部,其执行判定处理,该判定处理判定是否可执行以不由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制的重设动作;及电压控制部,其在通过判定部判定可执行重设动作的情况下,以执行重设动作的方式控制电压源。判定部基于来自检测被照射放射线的对象物的对象物检测传感器的信号,执行判定处理。
6、本专利技术的一方式的放射线检测装置中,基于来自检测被照射放射线的对象物的对象物检测传感器的信号,判定是否可执行以不由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制的重设动作。根据这样的结构,考虑对象物检测传感器的对象物的检测结果,判定是否可执行重设动作。由此,例如可在不存在对象物的时刻执行重设动作,且可在存在对象物的时刻以由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制。其结果,可抑制检测元件的极化现象的产生,且在入射至放射线检测装置的放射线透过对象物的情况下,可更可靠地检测该放射线。
7、(2)上述(1)所记载的放射线检测装置中,判定部也可在判定处理中,基于来自对象物检测传感器的信号,判定未检测出对象物的情况下,判定可执行重设动作。根据这样的结构,可在不存在对象物的时刻执行重设动作,例如在存在对象物的时刻以由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制。其结果,可抑制检测元件中极化现象的产生,且在入射至放射线检测装置的放射线透过对象物的情况下,可更可靠地检测该放射线。
8、(3)上述(1)或(2)所记载的放射线检测装置也可还具备:信号输入部,其受理自对象物检测传感器的信号输入。根据这样的结构,可可靠地接收来自设置于放射线检测装置外部的对象物检测传感器的信号,适当实施基于该信号的控制。
9、(4)上述(1)或(2)所记载的放射线检测装置也可还具备对象物检测传感器。根据这样的结构,可基于来自作为内部结构的对象物检测传感器的信号,适当实施上述控制。
10、(5)上述(4)所记载的放射线检测装置中,对象物检测传感器也可设置于与检测元件相同的基板。根据这样的结构,可抑制装置大型化。
11、(6)上述(1)至(5)所记载的放射线检测装置中,判定部也可在执行重设动作后,直至经过作为无需重设动作的期间的规定期间为止,不进行判定处理,在经过规定期间的情况下执行判定处理。根据这样的结构,在执行重设动作后,直至在放射线检测装置中再次需要消除极化现象为止,可抑制执行无用的重设动作。其结果,可使放射线检测装置更效率良好地动作。
12、(7)上述(1)至(6)所记载的放射线检测装置中,检测元件基于基准时钟动作,判定部也可通过计数基准时钟,而判定是否经过规定期间。根据这样的结构,可基于基准时钟更精度良好地判定是否经过规定时间。由此,在执行重设动作后,直至在放射线检测装置中再次需要消除极化现象为止,可更可靠地抑制执行重设动作。
13、(8)上述(1)至(7)所记载的放射线检测装置中,重设动作也可为停止对检测元件的电压施加的动作、或对检测元件施加反向偏置电压的动作的任一者。根据这样的结构,可更可靠地消除放射线检测装置中的极化现象。
14、(9)本专利技术的一方式的放射线检测系统具备:上述(1)至(8)所记载的放射线检测装置;光源,其照射放射线;及搬送装置,其以对象物通过放射线的照射区域的方式搬送上述对象物。这样的放射线检测系统中,例如通过构成为在搬送装置依次搬送多个对象物的状况下,自光源出射的放射线透过对象物,而例如可在不存在对象物的时刻执行重设动作,且可在存在对象物的时刻以由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制。其结果,可抑制检测元件的极化现象的产生,且在入射至放射线检测装置的放射线透过对象物的情况下,可更可靠地检测该放射线。
15、(10)上述(9)所记载的放射线检测系统也可还具备对象物检测传感器。根据这样的结构,可基于来自作为内部结构的对象物检测传感器的信号,适当实施上述控制。
16、(11)本专利技术的一方式的放射线检测方法包含:电压施加步骤,将入射的放射线直接转换成电荷,且对将对多个像素电极中的每个收集电荷的结果作为摄像图像数据输出的检测元件施加偏置电压;取得步骤,取得来自检测被照射放射线的对象物的对象物检测传感器的信号;判定步骤,基于来自对象物检测传感器的信号,判定是否可执行以不由检测元件收集电荷的方式实施对检测元件的电压控制的重设动作;及重设步骤,于本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种放射线检测装置,其中,
2.如权利要求1所述的放射线检测装置,其中,
3.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
4.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
5.如权利要求4所述的放射线检测装置,其中,
6.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
7.如权利要求6所述的放射线检测装置,其中,
8.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
9.一种放射线检测系统,其中,
10.如权利要求9所述的放射线检测系统,其中,
11.一种放射线检测方法,其中,
12.一种放射线检测装置,其中,
13.一种放射线检测系统,其中,
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种放射线检测装置,其中,
2.如权利要求1所述的放射线检测装置,其中,
3.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
4.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
5.如权利要求4所述的放射线检测装置,其中,
6.如权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,
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