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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及一种光检测器及分光测定装置
技术介绍
1、已知一种分光测定装置,其包含:光入射部,其使被测定光入射;衍射光栅,其将从光入射部入射的被测定光分光;以及光检测器,其检测由衍射光栅分光的被测定光。在这样的分光测定装置中,即使检测分光了的被测定光中规定次数的光(例如,一次光),固定次数以外的光(例如,二次光以上的高次光)也有时重叠于规定次数的光。因此,有时将用于去除规定次数以外的光的滤光构件配置于光检测器的前段(例如,参照专利文献1)。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1:日本特开2020-76712号公报
技术实现思路
1、专利技术所欲解决的问题
2、然而,如果在光检测器的前段配置滤光构件,则杂散光有可能增加。例如,因被测定光在滤光构件的内部发生多重反射,或在滤光构件与光检测器的窗部之间发生多重反射,杂散光有可能增加。抑制这样的杂散光的影响,在生成正确的光谱数据上极为重要。
3、本公开的目的在于,提供一种光检测器及分光测定装置,其可检测分光了的被测定光中的规定次数的光。
4、解决问题的技术手段
5、本公开的一个方面的光检测器为,[1]“一种光检测器,其中,是检测沿规定方向分光的被测定光中的规定次数的光的光检测器,具备:封装,其具有开口;窗部,其将所述开口密封,并使所述规定次数的光透过;以及光检测元件,其配置于所述封装内,具有与所述窗部相对的受光区域,并检测所述规定次数的光,所述受光区
6、在上述[1]所述的分光测定装置中,将封装体的开口密封的窗部包含:光透过构件;及线性可变滤光涂层,其透过波长沿被测定光分光的规定方向变化。由此,可对于被测定光中所含的多个波长分量的各个,抑制规定次数以外的次数的光入射至光检测元件。另外,在上述[1]所述的光检测器中,线性可变滤光涂层形成于光透过构件的光入射面及光出射面中的一方。例如,在单一的透过波长的滤光涂层形成于光透过构件的光入射面及光出射面的各个的情况下,在形成于光入射面的滤光涂层与形成于光出射面的滤光涂层之间,被测定光可能发生多重反射。然而,在上述[1]所述的光检测器中,可抑制因多重反射所致的杂散光的产生。根据以上所述,根据上述[1]所述的光检测器,可检测分光了的被测定光中的规定次数的光。
7、本公开的一个方面的光检测器也可为,[2]“根据上述[1]所述的光检测器,其中,所述线性可变滤光涂层形成于所述光入射面”。根据该[2]所述的光检测器,相比于线性可变滤光涂层配置于光出射面的情况,可容易且可靠地将封装体与窗部接合。
8、本公开的一个方面的光检测器也可为,[3]“根据上述[1]或[2]所述的光检测器,其中,所述规定次数的光是一次光”。根据该[3]所述的光检测器,可通过使线性可变滤光涂层作为用于将被测定光中的一次光透过的高次光截止滤光器而发挥功能,产生s/n优异的光谱数据。
9、本公开的一个方面的光检测器也可为,[4]“根据上述[1]至[3]中任一项的光检测器,其中,所述线性可变滤光涂层是,沿所述规定方向截止波长变化的线性可变长通滤光涂层、或沿所述规定方向透过波段变化的线性可变带通滤光涂层”。根据该[4]所述的光检测器,由于以规定次数的光为基准来抑制高次光的透过,因此,可抑制因该高次光引起的不自然的峰值出现于光谱数据。
10、本公开的一个方面的光检测器也可为,[5]“如上述[1]至[4]中任一项的光检测器,其中,所述窗部还包含:反射降低层,其形成于所述光入射面及所述光出射面中的另一方”。根据该[5]所述的光检测器,可减少因被测定光在光出射面与受光区域之间发生多重反射而产生的杂散光。
11、本公开的一个方面的分光测定装置也可为,[6]“一种分光测定装置,其具备:光入射部,其使被测定光入射;衍射光栅,其将从所述光入射部入射的所述被测定光分光;解析部,其生成所述被测定光的光谱数据;以及上述[1]至[5]中任一项所述的光检测器”。
12、根据该[6]所述的分光测定装置,可在光检测器中,检测分光了的被测定光中的规定次数的光。
13、专利技术的效果
14、根据本公开,可提供一种光检测器及分光测定装置,其可检测分光了的被测定光中的规定次数的光。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种光检测器,其中,
2.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
3.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
4.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
5.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
6.一种分光测定装置,其具备:
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种光检测器,其中,
2.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
3.根据权利要求1所述的光检测器,其中,
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