显示面板的像素不良检测方法、点灯检测装置和显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示面板的像素不良检测方法、点灯检测装置和显示装置，属于显示技术领域。所述显示面板中包括至少一个子像素、第一电源线和参考信号线，所述子像素包括发光器件，所述发光器件的第一极与所述参考信号线连接，所述发光器件的第二极与所述第一电源线连接。所述方法包括：向所述第一电源线提供检测电压；获取所述参考信号线上的反馈电压；根据所述反馈电压的变化情况判断所述发光器件的第一极与所述发光器件的第二极之间是否短路。本发明专利技术实施例可以识别显示面板中发光器件的第一极和第二极之间是否短路，有利于提升显示面板良率以及提升显示效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示，尤其涉及一种显示面板的像素不良检测方法、点灯检测装置和显示装置。

技术介绍

1、随着显示技术的发展，人们对显示面板的显示质量的要求越来越高。但是，当前显示面板的显示效果难以满足用户的需求。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种显示面板的像素不良检测方法、点灯检测装置和显示装置，以识别显示面板中因发光器件的第一极和第二极之间是否短路，有利于提升显示面板良率以及提升显示效果。

2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种显示面板的像素不良检测方法，所述显示面板中包括至少一个子像素、第一电源线和参考信号线，所述子像素包括发光器件，所述发光器件的第一极与所述参考信号线连接，所述发光器件的第二极与所述第一电源线连接；

3、所述方法包括：

4、向所述第一电源线提供检测电压；

5、获取所述参考信号线上的反馈电压；

6、根据所述反馈电压的变化情况判断所述发光器件的第一极与所述发光器件的第二极之间是否短路。

7、可选地，所述显示面板的像素本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述显示面板中包括至少一个子像素、第一电源线和参考信号线，所述子像素包括发光器件，所述发光器件的第一极与所述参考信号线连接，所述发光器件的第二极与所述第一电源线连接；

2.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，包括：至少一个检测阶段；每个所述检测阶段中选取至少一个所述子像素作为被测子像素；

3.根据权利要求2所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述子像素还包括像素电路，所述像素电路中包括第一复位模块，所述第一复位模块连接于所述参考信号线和所述发光器件的第一极之间；</p>

4.根据...

【技术特征摘要】

1.一种显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述显示面板中包括至少一个子像素、第一电源线和参考信号线，所述子像素包括发光器件，所述发光器件的第一极与所述参考信号线连接，所述发光器件的第二极与所述第一电源线连接；

2.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，包括：至少一个检测阶段；每个所述检测阶段中选取至少一个所述子像素作为被测子像素；

3.根据权利要求2所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述子像素还包括像素电路，所述像素电路中包括第一复位模块，所述第一复位模块连接于所述参考信号线和所述发光器件的第一极之间；

4.根据权利要求2所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述像素电路中还包括：驱动模块和至少一个发光控制模块；所述显示面板还包括第二电源线，所述驱动模块和所述发光控制模块串联连接于所述第二电源线和所述发光器件的第一极之间；

5.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，根据所述反馈电压的变化情况判断所述发光器件的第一极与所述发光器件的第二极之间是否短路，包括：

6.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求5所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述正常电压范围内的电压的绝对值小于第一预设电压值；

8.根据权利要求5所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，在确定所述反馈电压偏离正常电压范围之后，还包括：

9.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，根据所述反馈电压的变化情况判断所述发光器件的第一极与所述发光器件的第二极之间是否短路，包括：

10.根据权利要求1所述的显示面板的像素不良检测方法，其特征在于，所述发光器件的第一极为阳极，所述发光器件的第二极为阴极，所述第一电源线在显示面板显示画面时传输阴极电压；所述阴极电压和所述检测电压均为负电压；

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【专利技术属性】
技术研发人员：马子寒，鉏文权，刘可，潘卫卫，郭吉昌，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：